固體電介質(zhì)電擊穿的理論是以在介質(zhì)中發(fā)生碰撞電離為基礎(chǔ)的。它不包括由邊緣效應(yīng)、介質(zhì)劣化等因素引起的擊穿。
固體電介質(zhì)的中間存在少量處于導(dǎo)電能量狀態(tài)的電子（傳導(dǎo)電子）。它在電場加速下將與晶格點上的原子碰撞，但因固體介質(zhì)中的原子相互聯(lián)系十分緊密，所以必須考慮傳導(dǎo)電子與晶格碰撞。
由碰撞電離引起擊穿有下述兩種解釋：固體擊穿理論是考慮單位時間傳導(dǎo)電子從電場中獲得的能量與單位時間內(nèi)由于碰撞而失去的能量之間，因不平衡而引起擊穿；另一種擊穿理論則認(rèn)為：傳導(dǎo)電子由電場作用得到了可使晶格原子電離的能量,產(chǎn)生了電子崩，當(dāng)電子崩發(fā)展到足夠強時，引起固體電介質(zhì)擊穿。
電壓擊穿的特點：電壓作用時間短，擊穿電壓高，電介質(zhì)溫度不高；擊穿場強與電場均勻程度有密切關(guān)系，而與周圍環(huán)境溫度的高低幾乎無關(guān)。
電壓擊穿試驗儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r間的測試。
華測電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。
華測其它相關(guān)產(chǎn)品：
可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品
華測儀器--致力于材料電學(xué)測試技術(shù)
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
7
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務(wù)