華測(cè)儀器壓電材料居里溫度測(cè)試儀 參考價(jià)：14500
華測(cè)儀器壓電材料居里溫度測(cè)試儀可以分析被測(cè)樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時(shí)間變化的曲線。通過(guò)軟件將這些變化曲線的溫度譜、時(shí)間譜等集成一體并進(jìn)行分析測(cè)量并可以直接得...
固體絕緣材料介電擊穿電壓測(cè)試儀 參考價(jià)：18942
HCDJC系列固體絕緣材料介電擊穿電壓測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)?？蓪?duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確...
高溫管式快速爐 參考價(jià)：19600
目前國(guó)內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無(wú)法實(shí)現(xiàn)溫度的測(cè)量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測(cè)儀器通過(guò)...
熔噴布靜電電荷量測(cè)試儀 參考價(jià)：14970
4位半HEST系列熔噴布靜電電荷量測(cè)試儀結(jié)合了華測(cè)高靈敏度電壓、電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有手動(dòng)電荷量程和快速自動(dòng)量...
壓電陶瓷居里溫度測(cè)試儀 參考價(jià)：7800
壓電陶瓷居里溫度測(cè)試儀可以分析被測(cè)樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時(shí)間變化的曲線。通過(guò)軟件將這些變化曲線的溫度譜、時(shí)間譜等集成一體并進(jìn)行分析測(cè)量并可以直接得出樣品的...
華測(cè)絕緣電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：13000
華測(cè)絕緣電阻測(cè)試儀一般指兆歐表又稱搖表。它的刻度是以兆歐（MΩ）為單位的。兆歐表由中大規(guī)模集成電路組成。本表輸出功率大，短路電流值高，輸出電壓等級(jí)多（每種機(jī)型有...
水平垂直燃燒測(cè)試儀 參考價(jià)：14879
水平垂直燃燒測(cè)試儀本試驗(yàn)設(shè)備符合 ANSI/UL94、IEC60950-1 標(biāo)準(zhǔn)的要求。用于對(duì)電器設(shè)備和器具的塑料材 料部件進(jìn)行水平、垂直可燃性試驗(yàn)。產(chǎn)品箱體外...
華測(cè)差示掃描量熱儀 參考價(jià)：15970
HCDSC華測(cè)差示掃描量熱儀測(cè)量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣，特別是材料的研發(fā)、性能檢測(cè)與質(zhì)量控制。材料的特性：如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、...
華測(cè)水平垂直燃燒測(cè)試儀 參考價(jià)：12000
華測(cè)水平垂直燃燒測(cè)試儀用于對(duì)電器設(shè)備和器具的塑料材 料部件進(jìn)行水平、垂直可燃性試驗(yàn)。產(chǎn)品箱體外殼為鋼材結(jié)構(gòu)，并配置了透明觀察窗，數(shù)顯 計(jì)時(shí)器記錄施焰、余焰、余灼...
華測(cè)絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 參考價(jià)：25000
華測(cè)絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)應(yīng)用電路板測(cè)試可連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。
熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：35000
熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)是被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等。
絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 參考價(jià)：25000
面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣bu良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可...
鐵電遲豫電流測(cè)試儀 參考價(jià)：45000
鐵電遲豫電流測(cè)試儀主要用來(lái)研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀 參考價(jià)：10000
陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀本設(shè)備專門(mén)用于陶瓷多層執(zhí)行器在動(dòng)態(tài)加載力和靜態(tài)加載力條件下的性能研究，并且可以從室溫到200℃的測(cè)試。
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 參考價(jià)：10000
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC （Thermally Stimulated De...
電卡效應(yīng)測(cè)試儀 參考價(jià)：10000
電卡效應(yīng)測(cè)試儀系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。
低溫塊體壓電分析儀 參考價(jià)：10000
低溫塊體壓電分析儀主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 參考價(jià)：10000
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀主要用于研究磁阻和鐵性材料。本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，樣品上的電壓降通過(guò)四點(diǎn)測(cè)試。
熱釋電性能測(cè)試儀 參考價(jià)：35000
熱釋電性能測(cè)試儀系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。測(cè)試結(jié)果可得到：熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線。
紅外高溫爐 參考價(jià)：100000
紅外高溫爐是華測(cè)的工程師通過(guò)多年研究開(kāi)發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。
近紅外加熱爐 參考價(jià)：35000
近紅外加熱爐是華測(cè)公司通過(guò)多年研究開(kāi)發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布?？蓪?shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱...
華測(cè)-絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 參考價(jià)：35000
華測(cè)-絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET...
高溫低電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：36500
高溫低電阻測(cè)試儀HGTZ-900 系列，Labview hcpro 系統(tǒng)搭配 系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的 軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)...
居里溫度先進(jìn)測(cè)試儀 參考價(jià)：45000
居里溫度測(cè)試儀運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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