Nicomp 380 DLS納米粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.5nm – 6nm。粒度分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的NiComp 多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。整機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì),可靈活方便地?cái)U(kuò)展 Zeta 電位等其它功能。

Nicomp 380 DLS納米粒度儀

Nicomp 380 DLS納米粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.5nm – 6nm。粒度分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的NiComp 多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。整機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì),可靈活方便地?cái)U(kuò)展 Zeta 電位等其它功能。

儀器參數(shù)：