主要特性與技術(shù)指標(biāo)
主要性能技術(shù)指標(biāo)
低 PDL 不確定度：±0.002dB
低頻譜紋波不確定度： ±0.002dB
功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料
特定的校準(zhǔn)選件
使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為 ±1.5%
使用 PTB 校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為 ±0.8%
描述
Keysight 81624B 光功率探頭專為探測(cè)低 PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。 該探頭配有磁性 D 型適配器，并支持安全操作。 光探頭必須與單(Keysight 81618A)或雙(Keysight 81619A)接口模塊結(jié)合使用。
在任何 8163B、8164B 和 8166B 主機(jī)的任何配置中都可對(duì)這些模塊進(jìn)行控制。 極其靈活的連接器接口面板適用于已連接的、裸光纖或敞束型應(yīng)用。
特性
低 PDL 不確定度：±0.002dB
大型 5 毫米檢波器
優(yōu)勢(shì)
相對(duì)偏低的不確定度可降低連接和光纖處理的影響，從而確保穩(wěn)固的測(cè)試設(shè)置
大型檢波器不易造成連接器偏離，可確保高重復(fù)性的測(cè)量結(jié)果。 光探頭在每平方毫米的功率偏低，因而更適合大功率測(cè)量，并能確保更佳的線性度
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
主要性能技術(shù)指標(biāo)
低 PDL 不確定度：±0.002dB
低頻譜紋波不確定度： ±0.002dB
功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料
特定的校準(zhǔn)選件
使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為 ±1.5%
使用 PTB 校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為 ±0.8%
描述
Keysight 81624B 光功率探頭專為探測(cè)低 PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。 該探頭配有磁性 D 型適配器，并支持安全操作。 光探頭必須與單(Keysight 81618A)或雙(Keysight 81619A)接口模塊結(jié)合使用。
在任何 8163B、8164B 和 8166B 主機(jī)的任何配置中都可對(duì)這些模塊進(jìn)行控制。 極其靈活的連接器接口面板適用于已連接的、裸光纖或敞束型應(yīng)用。
特性
低 PDL 不確定度：±0.002dB
大型 5 毫米檢波器
優(yōu)勢(shì)
相對(duì)偏低的不確定度可降低連接和光纖處理的影響，從而確保穩(wěn)固的測(cè)試設(shè)置
大型檢波器不易造成連接器偏離，可確保高重復(fù)性的測(cè)量結(jié)果。 光探頭在每平方毫米的功率偏低，因而更適合大功率測(cè)量，并能確保更佳的線性度
