XP205DRXP205DR梅特勒微量分析天平梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領(lǐng)域中的又一里程碑。革命性的創(chuàng)新設(shè)計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數(shù)據(jù)管理的安全性設(shè)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。

XP205DRXP205DR梅特勒微量分析天平

【簡單介紹】

XP205DR梅特勒微量分析天平 無錫梅特勒托利多天平維修處
梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領(lǐng)域中的又一里程碑。革命性的創(chuàng)新設(shè)計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數(shù)據(jù)管理的安全性設(shè)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。

【詳細說明】

【詳細說明】

XP205DR梅特勒微量分析天平技術(shù)特性：

· 紅外感應(yīng)器（SmartSense），實現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作：開關(guān)門、打印、去皮等 

· 彩色智能觸摸屏（SmartScreen），實現(xiàn)安全，便捷的天平操作 

· 網(wǎng)格秤盤（SmartGrid），獲得快速、準(zhǔn)確稱量結(jié)果 

· 水平控制系統(tǒng)（LevelCControl）,  在天平偏移水平位置時提供警告提示功能 

· 易巧稱量組件（ErgoClip），滿足使用不同容器的稱量需求 

· 用戶管理工具（UserManagement），可以獨立設(shè)置操作者的使用權(quán)限 

· MinWeighzui小稱量值功能，提供符合規(guī)范的稱量幫助（需要梅特勒-托利多客戶服務(wù)工程師現(xiàn)場設(shè)置激活）

XP205DRXP205DR梅特勒微量分析天平

· 天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校驗天平,確保稱量結(jié)果始終準(zhǔn)確 

· ProFACT專業(yè)級全自動校準(zhǔn)技術(shù)，溫度漂移和時間設(shè)置觸發(fā)的內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)和全自動線性校準(zhǔn),獲得精確稱量結(jié)果 

· *可拆卸、清洗的防風(fēng)罩設(shè)計，實現(xiàn)快速清潔 

· 高度可調(diào)節(jié)的內(nèi)置防風(fēng)罩，確保精確稱量結(jié)果 

· 可移動、分離的顯示控制終端，方便天平使用 

· 標(biāo)配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網(wǎng)、USB、LocalCan、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設(shè)備

· 顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕

· 6種內(nèi)置應(yīng)用稱量程序:簡單稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測定、統(tǒng)計功能、公事稱量

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XP205DRXP205DR梅特勒微量分析天平技術(shù)指標(biāo)：