X射線鍍層測厚儀XDAL237
在設(shè)計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率

X射線鍍層測厚儀XDAL237  

在設(shè)計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

        FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面。此外，在如引線框架等樣品上進行多點測量，或是在多個不同樣品上進行批量測量，都可以通過快速編程自動化地完成。

        X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對較小的探測器有效接收面積（相比較比例計數(shù)器探測器來說），信號強度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點的測量。和XDLM類似，準直器和基本濾片是可自動切換，以便為不同測量程式創(chuàng)造*佳的激勵條件。

特征： 
    • 帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。*高工作條件： 50 kV, 50W
    • X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管
    • 準直器：4個，可自動切換，從直徑Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm 
    • 基本濾片：3個，可自動切換
    • 測量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
    • 可編程XY平臺
    • 視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準的刻度標尺，而測量點實際大小也在圖像中顯示。
    • 設(shè)計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：
    • 鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來料檢驗，生產(chǎn)監(jiān)控。
    • 研發(fā)項目
    • 電子行業(yè)
    • 接插件和觸點
    • 黃金、珠寶及手表行業(yè)
    • 測量印刷線路板上僅數(shù)個納米的Au和Pd鍍層
    • 痕量分析
    • 根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
    • 分析硬質(zhì)鍍層材料