COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀電解原理
COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀的儀器通過電解去除層來測量涂層厚度。 特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。 部署CSM2 STEP版本，用于單層標(biāo)準(zhǔn)的STEP測試測量，并檢測潛在的差異

COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀電解原理

簡單介紹：
COULOSCOPE CMS2 庫侖法測厚儀的儀器通過電解去除層來測量涂層厚度。 特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。 部署CSM2 STEP版本，用于單層標(biāo)準(zhǔn)的STEP測試測量，并檢測潛在的差異，例如在鎳多層質(zhì)量控制中。同時測量涂層厚度和電化學(xué)電位根據(jù)庫侖法。

特征：
標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕點陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
可設(shè)置和儲存：50個應(yīng)用程式、600個數(shù)據(jù)組；3 000個數(shù)據(jù)
統(tǒng)計：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg 
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm
COULOSCOPECMS
COULOSCOPECMS STEP
庫侖鍍層厚度測試儀
分步測量： 鍍層厚度和電位差
測量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等
COULOSCOPE CMS雙層鎳鍍層庫倫測厚儀基本配置：
儀器：Couloscope CMS
測量臺： V24、V26、V18 等 
電解液： F1 ～ F22
作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。 
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。
——特征

——主要特征
1.使用高精度電解脫鍍技術(shù)（庫侖法）測量多層
2.易于操作的顯示和圖形支持的用戶指導(dǎo)
3.普遍適用于金屬和非金屬基材的測量，也適用于多層涂料
4.通過全面的附件組合適應(yīng)具體要求
5.單涂層和多涂層系統(tǒng)的測量
6.圖形顯示，用于清晰的測量視圖，設(shè)定的涂層系統(tǒng)以及脫模速率和測試區(qū)域尺寸等參數(shù)。
7.液晶顯示屏上電池電壓的圖形顯示。
8.大多數(shù)金屬涂層的許多預(yù)定義的測量應(yīng)用
9.可選擇的測量單位：μm或mils
10.歐洲，南美和亞洲的顯示語言

篤摯儀器（上海）有限公司主營檢測儀器設(shè)備有：

==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測量儀；
==>>量博LAB GAGES 全自動零件清潔度檢測系統(tǒng)；
==>>捷克吉爾-斯派克 GearSpect 齒輪嚙合儀、齒輪檢測中心；
==>>?？怂箍等鴺?biāo)、ROMER關(guān)節(jié)臂測量機(jī)；
==>>瑞士TRIMOS測長儀、測高儀、測長機(jī)；
==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測量系統(tǒng)；
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==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測器；
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==>>量博LAB全自動顯微硬度測試系統(tǒng)、布洛維硬度機(jī)、布氏硬度計、洛氏硬度計、維氏硬度計；
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==>>美國雷泰Raynger紅外測溫儀；
==>>美國OGP多傳感影像測量儀；