◆ XOS® （X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學系統(tǒng)公司） 總部位于美國紐約州*Albany, 為丹納赫水質(zhì)平臺子公司。
◆ XOS®是一家應用材料和元素分析設備供應商，為重視控制材料質(zhì)量與性能的行業(yè)監(jiān)管部門和客戶提供技術(shù)的分析設備。

美國 XOS 公司 X 射線熒光光譜儀

1. XOS 公司介紹：

◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學系統(tǒng)公司) 總部位于美國紐約州*Albany, 為丹納赫水質(zhì)平臺子公司。

◆ XOS®是一家應用材料和元素分析設備供應商，為重視控制材料質(zhì)量與性能的行業(yè)監(jiān)管部門和客戶提供技術(shù)的分析設備。

◆ XOS公司擁有的研發(fā)和設計能力，與美國的眾多研究機構(gòu)有合作關(guān)系，曾經(jīng)參與了許多的課題設計，包括美國宇航局的行星元素探測計劃（XRF方法）等。

◆ XOS擁有X射線光學技術(shù)，能夠幫助客戶將測量靈敏性提高百倍，減少測量時間，提高空間分辨率，縮小設備尺寸，并且節(jié)約設備成本。

◆ XOS公司的光學晶體應用于大型波長色散型XRF、微區(qū)聚焦XRF、掃描電鏡等X射線儀器。XOS公司與其他著名的XRF生產(chǎn)廠商都有合作，提供給它們光學聚焦晶體。

◆ XOS公司具備HDXRF的技術(shù)——DCC，也是一家擁有自己技術(shù)的XRF生產(chǎn)廠商，其他品牌XRF的核心部件——X光管、濾光片、準直器等均為外購。

◆ XOS公司在元素分析領域有著技術(shù)應用，XOS公司與美國NASA下屬的JPL實驗室合作，研發(fā)了一款用于2020火星計劃的XRF元素分析儀

2. 主要技術(shù)參數(shù)和優(yōu)點：

1) 采用XOS技術(shù)DCC®（雙曲面彎晶技術(shù)），取代傳統(tǒng)的濾光片和準直器，真正實現(xiàn)單色光激發(fā)樣品；

2) 檢測光斑1mm，適合測試不規(guī)則樣品和細小樣品；

3) 采用SDD硅漂移探測器，分辨率高，無需液氮冷卻；

4) 滿足美國ASTM F2853標準、

5) 可同時測試涂層與基材中的重金屬含量、

6) 采用基本參數(shù)法，可分析各類未知樣品；等等

美國XOS HD  手持式X射線熒光光譜儀

應用領域：

•重金屬檢測，確保符合法規(guī)要求

•快速 篩檢和定量分析有毒元素

•在整個供應鏈中進行合規(guī)驗證：

-生產(chǎn)過程和成品質(zhì)量分析與控制（QA/QC)

-倉庫和零售商

-監(jiān)管部門

-現(xiàn)場應用

性能和優(yōu)勢:

•快速完成測試，測試結(jié)果可與“濕式化學法” 

•與濕式化學法相比，運營成本更低

•降低第三方測試成本

•改善工作流，降低成本

•提高測試頻率，同時降低成本

•在實際篩檢和認證應用中，具有 的檢測下限

•同時對涂層與基體進行獨立分析

•點分析并配有分辨率分析畫圖像

•用戶友好型界面和數(shù)據(jù)管理，易于操作

HD  應用優(yōu)勢

技術(shù)方面

① 傳統(tǒng) XRF 普遍使用金屬濾光片，對原級 X 射線進行過濾，會導致熒光減弱，在測試低

含量時，其結(jié)果波動較大，不具有參考性。同時濾光片數(shù)量有限，在基材有所變化時，

濾光片不一定適用，導致結(jié)果偏差。 而 HD  使用雙彎晶，具有聚光功能，加強

X 熒光.在低含量檢出時，其結(jié)果仍具有一定穩(wěn)定性，檢出限較低。而金屬中元素較難

檢測，HD 將能更好應對。

② 軟件方面，HD使用 FP 計算方法，同時顯示所有測試元素。并且結(jié)合雙彎晶特

點，一條曲線就能完成所有金屬類別檢測；而傳統(tǒng) XRF 需要應對不同的基體，單獨曲

線，或者特殊材質(zhì)，特殊標定校正，操作較麻煩。

產(chǎn)品方面

① HD提供不同操作模式，即可定量分析，亦可便攜篩選。 可應對不同場合測試需求

② XOS 技術(shù)，涂層基材檢測能力，可應對不同種類產(chǎn)品以及不同發(fā)展需求。

③ HD 不開放操作人員數(shù)據(jù)修正功能，源自于丹納赫以及 XOS 對旗下產(chǎn)品性能穩(wěn)

定性以及技術(shù)自信。

實際使用方面

① 針對樣品復雜多樣的客戶，HD  相對傳統(tǒng) XRF 儀器而言，結(jié)果更加真實、可靠、

穩(wěn)定。

② 1mm 小光斑可測試細小樣品及不規(guī)則樣品的細小部位。

③ 針對復雜的金屬樣品，其牌號、組成、工藝等方面的差異，都會造成儀器檢測的困難，

HD 相對傳統(tǒng) XRF 而言，不需要特定的校準曲線而統(tǒng)一采用 FP 無標樣分析技

術(shù)，可以更好的應對多種類型的樣品，省去測試人員區(qū)分樣品的工作環(huán)節(jié)，以及*

避免由此帶來的人為誤差

產(chǎn)品規(guī)格