FISCHERSCOPE-XDL-B X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線(xiàn)系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。XDL-B 的特色是特別的距離修正方法。 DCM方法（距離控制測(cè)量）自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。

FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線(xiàn)系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。XDL-B 的特色是特別的距離修正方法。 DCM方法（距離控制測(cè)量）自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)于XDL?-B 帶測(cè)量距離固定的X-射線(xiàn)頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便測(cè)量的可能性。在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡(jiǎn)化了測(cè)量比較復(fù)雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測(cè)量。

典型的應(yīng)用范圍如下：
    單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
    二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
    三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
    雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
    雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

一、德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測(cè)試儀介紹：
1、適用于Windows®2000或Windows® XP的真Win32位程序帶在線(xiàn)幫助功能。 
2、頻譜庫(kù)中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。 
3、能通過(guò)“應(yīng)用工具箱”(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤(pán)和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡(jiǎn)單化。 
4、畫(huà)中畫(huà)測(cè)試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像；計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線(xiàn)光束大小指示器（光束的大小取決于測(cè)量的距離，見(jiàn)背面）
5、圖形化的用戶(hù)界面，測(cè)試件的圖像顯示可插入于測(cè)試報(bào)告中 

6、對(duì)試件與視準(zhǔn)器之間的距離進(jìn)行視覺(jué)控制的校正（DCM方法）范圍可達(dá)80mm(3.2〞)

二、德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測(cè)試儀特點(diǎn)：
1、FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows® 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線(xiàn)系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。 
2、XDL®-B 的特色是特別的距離修正方法。DCM方法（距離控制測(cè)量）自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)于XDL®-B 帶測(cè)量距離固定的X-射線(xiàn)頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便測(cè)量的可能性。特別針對(duì)微波腔體之類(lèi)樣品的底部鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量。

三、德國(guó)菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線(xiàn)熒光測(cè)試方法；
2.原始射線(xiàn)從上至下； 
3.X-射線(xiàn)管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至*佳的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV； 
4.單個(gè)0.3mm直徑(12 mils)的標(biāo)準(zhǔn)視準(zhǔn)器，在附加費(fèi)用的基礎(chǔ)上可選擇0.05×0.3 mm(2×12 mil)帶槽視準(zhǔn)器；或直徑0.1mm;或直徑0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.測(cè)量箱外部尺寸：（高×寬×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大約為105kg（120lbs）； 
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）帶向上回轉(zhuǎn)箱門(mén)； 
7.嵌入式固定的測(cè)試件支承板，需要時(shí)可移去以適用于大件的超出尺寸的測(cè)試工件。 
8.從X-射線(xiàn)頭部（X-射線(xiàn)管，成比例的反射接收器及視準(zhǔn)器）至測(cè)試件平面支承板有三種可選擇的固定距離。需要的設(shè)定距離（見(jiàn)背面）必須在定貨時(shí)明確（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定：中間位置） 
9.試件查看用彩色攝像機(jī) ，
10.帶有LED狀態(tài)指示燈的測(cè)量開(kāi)始/結(jié)束按鈕與測(cè)試箱集成在一體