南京芯片高低溫試驗箱
用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。

南京芯片高低溫試驗箱

3.1測試環(huán)境條件

3.2測試方法

環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內無試樣條件下

GB/T 5170.2 溫度試驗設備

GB/T 5170.5濕熱試驗設備（僅濕熱型）

滿足試驗標準

GJB   150.3高溫試驗

GJB   150.4低溫試驗

IEC68-2-1   試驗A：寒冷

IEC68-2-2   試驗B：干熱

GB   11158《高溫試驗箱技術條件》

GB10586-1《濕熱試驗箱技術條件》

GB/T   2423.2《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法》

GB/T   2423.3《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法》

等……

 南京芯片高低溫試驗箱

安裝場地

地面平整，通風良好

設備周圍無強烈振動

設備周圍無強電磁場影響

設備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質和粉塵

設備周圍留有適當?shù)氖褂眉熬S護空間，如下圖所示：

A：不小于10cm

B：不小于60cm

C：不小于60cm

D：不小于160cm