專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOSGmbH公司（總經(jīng)理MaxHaider先生）共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術研究
專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經(jīng)理Max Haider先生）共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標準型號顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時，探針電流提高了10倍。
最近，該顯微鏡還配備了高分辨率鏡頭和冷場發(fā)射電子槍，進一步提高了圖像分辨率和電子束能量分辨率。同時，該型號系列還增加了一款不帶球差校正的主機配置，可以以后加配球差校正進行升級。
特點 |
（*） 選購件
項目 | 描述 | |
| 圖像分辨率 | w/o球差校正儀 | 保證 0.204nm（當放大倍數(shù)為4,000,000時） |
| w球差校正儀 | 保證 0.144 nm（當放大倍數(shù)為7,000,000時）（標準鏡頭） | |
| 保證 0.136nm（HAADF圖像） 保證0.105 nm（通過FFT）（當放大倍數(shù)為7,000,000時）（高分辨率鏡頭（*）） | ||
| 放大倍數(shù) | 100倍 至 10,000,000倍 | |
| 加速電壓 | 200 kV, 120 kV （*） | |
| 成像信號 | 明場掃描透射電子顯微鏡：相襯圖像（TE圖像） 暗場掃描透射電子顯微鏡：原子序數(shù)襯度圖像（Z襯度圖像） 二次電子圖像（SE圖像） 電子衍射（*） 特征X射線分析和面分布（能譜分析）（*） 電子能量損失譜分析和面分布（EV3000）（*） | |
| 電子光學系統(tǒng) | 電子源 | 肖特基發(fā)射電子源 |
| 冷場致發(fā)射器（*） | ||
| 照明透鏡系統(tǒng) | 2-段聚光鏡鏡頭 | |
| 球差校正儀（*） | 六極鏡頭設計 | |
| 掃描線圈 | 2-段式電磁感應線圈 | |
| 原子序數(shù)襯度收集角控制 | 投影鏡設計 | |
| 電磁圖像位移 | ±1 μm | |
| 試片鏡臺 | 樣品移動 | X/Y軸 = ±1 mm, Z軸 = ±0.4 mm |
| 樣品傾斜 | 單軸-傾斜樣品桿：±30°（標準鏡頭）, ±18°（高分辨率鏡頭（*）） | |
| 真空系統(tǒng) | 3個離子泵，1個TMP | |
| 極限真空 | 10-8 Pa（電子槍）, 10-5 Pa（樣品室） | |
| 圖像顯示 | 個人電腦／操作系統(tǒng) | PC/AT兼容, Windows? XP |
| 監(jiān)視器 | 19-inch液晶顯示器面板 | |
| 圖像幀尺寸 | 640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素 | |
| 掃描速度 | 快掃，慢掃（0.5至320秒／幀） | |
| 自動數(shù)據(jù)顯示 | 記錄序號，加速電壓，下標尺，日期，時間 | |
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