異物自動(dòng)識(shí)別,自動(dòng)順序測(cè)量
測(cè)量位置自動(dòng)識(shí)別——異物圖像識(shí)別算法
提供異物自動(dòng)識(shí)別功能。分析人員僅需點(diǎn)擊一下按鈕,軟件即可自動(dòng)識(shí)別異物。
并且可在1秒鐘之內(nèi)自動(dòng)設(shè)置好全部測(cè)量點(diǎn)適用的顯微光闌尺寸和角度。
包括兩種模式:標(biāo)準(zhǔn)模式和小樣品模式。用戶可以根據(jù)自己的應(yīng)用來(lái)選擇合適的模式。
自動(dòng)識(shí)別的測(cè)量點(diǎn)可不經(jīng)編輯直接開(kāi)始自動(dòng)測(cè)量,也可以由分析人員來(lái)選擇性的增刪測(cè)量點(diǎn)。
樣品可見(jiàn)圖像自動(dòng)存入測(cè)得的光譜文件中,方便日后快速區(qū)分指認(rèn)。
確認(rèn)失效原因
自動(dòng)確認(rèn)異物成分——異物自動(dòng)分析程序
LabSolutions IR軟件提供的異物分析程序來(lái)自動(dòng)確認(rèn)異物成分。
AIMsolution測(cè)得的光譜可以直接載入LabSolutions IR進(jìn)行分析。
異物分析程序可以高精度的確認(rèn)所測(cè)得的異物成分,
它基于異物分析中常見(jiàn)異物的譜庫(kù)數(shù)據(jù)和島津的識(shí)別算法。