X射線鍍層測(cè)厚儀Thick880
---專業(yè)的金屬電鍍層測(cè)試專家
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)
*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測(cè)速度、超人性化界面
*易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結(jié)果
*有助于識(shí)別鍍層成分的創(chuàng)新型功能
*機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實(shí)，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室
*按下按鈕的數(shù)秒之內(nèi)，即可得到有關(guān)樣件鍍層厚度的精確結(jié)果
*使用PC機(jī)和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗(yàn)結(jié)果證書
*用戶通過攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng)，可看到樣件測(cè)試位置，提升了用戶測(cè)試信心
*Thick系列分析儀測(cè)試數(shù)據(jù)可以下載和上傳網(wǎng)絡(luò)，檢測(cè)結(jié)果易于查看和分享
*有X射線防護(hù)鎖，只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線，安全、可靠的保證客戶使用
測(cè)試樣品示例
儀器應(yīng)用演示
1、打開儀器上蓋
2、放入樣品
3、在軟件中點(diǎn)擊“開始”按鈕,測(cè)量完成,顯示分析結(jié)果
XRF鍍層分析儀硬件性能及優(yōu)勢(shì)
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）
同時(shí)可以分析幾十種以上元素，五層鍍層
分析檢出限可達(dá)2ppm,鍍層分析可以分析0.005um厚度樣品
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
儀器配置
高壓電源 0 ~ 50KV
光管管流 0μA ~ 1000μA
數(shù)字多道分析器
攝像頭
濾光片可選擇多種定制切換
美國進(jìn)口半導(dǎo)體探測(cè)器
測(cè)試時(shí)間可調(diào) 10sec ~ 100sec
儀器環(huán)境要求
環(huán)境溫度 15°C ~ 30°C
相對(duì)濕度 35% ~ 70%
電源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ
