歡迎使用RST5212F電化學(xué)工作站。本工作站是具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的電化學(xué)分析儀器和測(cè)試儀器。RST5212F電化學(xué)工作站是集電化學(xué)分析方法于循環(huán)伏安、階梯伏安、脈沖伏安、方波伏安等電化學(xué)分析方法;還可以完成恒電位極化、恒電流極化，電位、電流、電量階躍和塔菲爾圖、交流阻抗等六十多種電化學(xué)測(cè)試功能，RST5212F電化學(xué)工作站是在RST3100電化學(xué)工作站的基礎(chǔ)上增加交流阻抗等交流方法加大輸出電流，提高掃描速度，提高電位、電流分辨率，在電化學(xué)測(cè)試方法上增加了脈沖電鍍方法、電池充放電等多種交流測(cè)試方法而成。RST5212F電化學(xué)工作站數(shù)據(jù)采集與數(shù)據(jù)處理的軟件是基于Windows2000/XP及以上版本操作系統(tǒng)的軟件，用戶界面遵守Windows軟件的設(shè)計(jì)規(guī)則，容易安裝和使用。系統(tǒng)軟件為方便使用者提供了強(qiáng)大的功能，包括文件管理，全面的實(shí)驗(yàn)控制，靈活的圖形顯示，方便的圖形放大、縮小和還原，位圖圖形和數(shù)據(jù)的導(dǎo)出，多種數(shù)據(jù)處理功能。系統(tǒng)軟件具有良好的用戶界面，全中文菜單，方便的峰識(shí)別和疊加，更為方便地為教學(xué)和科研服務(wù)。
RST5212F產(chǎn)品全部由高品質(zhì)CMOS和BiFET集成電路組成，主要器件全部采用進(jìn)口優(yōu)質(zhì)品。PCB采用當(dāng)代EDA設(shè)計(jì)規(guī)范及工藝。采用數(shù)控低量化噪聲掃描方式，有效地降低了因掃描發(fā)生器所產(chǎn)生的階梯波的量化噪聲及差分噪聲。具有控制精度高、響應(yīng)速度快、性能穩(wěn)定、結(jié)構(gòu)緊湊、自動(dòng)化程度高的特點(diǎn)，該儀器可由微機(jī)控制來(lái)進(jìn)行電化學(xué)分析方法測(cè)量，因此適用于高?？蒲信c教學(xué)實(shí)驗(yàn)使用。
軟件能實(shí)現(xiàn)圖形和數(shù)據(jù)同步顯示。系統(tǒng)可對(duì)測(cè)試曲線進(jìn)行數(shù)字平滑、微分和積分，能對(duì)極化曲線進(jìn)行疊加、放大和縮小，并對(duì)其進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析，設(shè)備安裝簡(jiǎn)單，即插即用。用戶可以使用筆記本電腦或臺(tái)式機(jī)控制。全中文視窗軟件，界面友好、易學(xué)易用符合中國(guó)電化學(xué)工作者的使用習(xí)慣。
應(yīng)用領(lǐng)域:
電化學(xué)教學(xué) 電化學(xué)分析
電化學(xué)合成 痕量元素檢測(cè)
電鍍工藝開(kāi)發(fā) 電池材料研究
環(huán)境保護(hù)監(jiān)測(cè) 生物電化學(xué)傳感器
電解、冶金、制藥 半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料研究
電化學(xué)腐蝕研究測(cè)量 超級(jí)電容器特性測(cè)試分析
電池化成及特性測(cè)試分析 電壓及電流時(shí)間曲線記錄儀
儀器亮點(diǎn):
具有六十九種電化學(xué)測(cè)量方法，緊跟電化學(xué)測(cè)量技術(shù)的發(fā)展前沿。
的測(cè)量分辨率、精度及抗力，滿足痕量組分檢測(cè)及精確標(biāo)定。
電位掃描范圍寬，±12.8V，確保有機(jī)、鈍化、電池、超級(jí)電容等測(cè)量。
大電流驅(qū)動(dòng)，確保電解、儲(chǔ)能、腐蝕等大面積電極體系的應(yīng)用。
豐富的智能測(cè)量、擬合技術(shù)及專業(yè)知識(shí)庫(kù)，極大地減輕實(shí)驗(yàn)操作者的工作強(qiáng)度。
激勵(lì)及采集速率高達(dá)10Msps，能適應(yīng)高速掃描及高頻交流阻抗譜的測(cè)量需求。
設(shè)有極性、電壓、電流、時(shí)間、鏈路保護(hù)機(jī)制，大大提升儲(chǔ)能電化學(xué)實(shí)驗(yàn)的安全性。
一臺(tái)計(jì)算機(jī)可以同時(shí)連接兩臺(tái)相同的電化學(xué)工作站,同時(shí)測(cè)量分開(kāi)掃描,數(shù)據(jù)共享。
主要技術(shù)參數(shù):
(1)儀器架構(gòu)： | 恒電位儀、恒電流儀、交流阻抗頻譜儀 |
接地模式： | 可根據(jù)體系要求設(shè)置成實(shí)地模式或浮地模式 |
槽壓： | ±22V |
電位掃描范圍： | ±12.8V |
CV最小電位增量： | 0.0125mV |
電位控制精度： | <±0.5mV |
電位控制噪聲： | <0.01mV |
電位上升時(shí)間： | <0.00025mS |
電位測(cè)量零位： | 自動(dòng)校正 |
電位更新及阻抗采集速率： | 10MHz |
電位測(cè)量低通濾波器： | 自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置 |
電位測(cè)量精度： | 滿量程的0.1% |
掃描速度： | 0.000001V/S～20000V/S |
參比電極輸入阻抗//電容： | >1013Ω//<10pF |
恒電流輸出： | ±2000mA |
輸入偏置電流： | <0.1pA |
電流測(cè)量分辨率： | 電流量程的0.00076%，最小0.2fA |
電流測(cè)量零位： | 自動(dòng)校正 |
電流測(cè)量量程： | 1pA～2000mA(27檔) |
前置放大倍數(shù)： | 5×10×100 |
電流測(cè)量靈敏度： | 1×10-12A/V |
電流測(cè)量精度： | 滿量程的0.1% |
電流測(cè)量低通濾波器： | 自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置 |
方波伏安法頻率： | 1Hz~100kHz |
交流伏安法頻率： | 0.1Hz~10kHz |
交流阻抗譜頻率: | 0.00001Hz～1MHz（11個(gè)頻段） |
正弦波幅度: | 0.01mV～12V |
CA和CC脈沖寬度： | 0.1mS～1200S |
DPV脈沖寬度： | 0.05mS～64S |
IR降補(bǔ)償： | 自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置（10Ω~1MΩ） |
多階躍循環(huán)次數(shù)： | 1000次 |
限壓反饋恒流換向時(shí)間： | <0.1mS |
恒流限壓循環(huán)周期： | 0.1S~100000S |
脈沖電鍍//最小脈寬： | 八相脈沖可正可負(fù)//0.05mS |
電池全容量充電工步： | 激活、恒流、恒壓、涓流 |
雙通道高速ADC： | 18bit@1Msps |
數(shù)據(jù)長(zhǎng)度： | 20，000，000點(diǎn) |
通氮攪拌及敲擊控制輸出： | 二路開(kāi)關(guān)量信號(hào)（+5V/10mA） |
擴(kuò)展輸出： | 二路光電隔離數(shù)字量信號(hào) |
儲(chǔ)能電化學(xué)測(cè)量保護(hù)模式： | 極性、電壓、電流、時(shí)間、鏈路 |
電極智能柔性保護(hù)： | 電壓超載、電流超載 |
儀器尺寸: | 36×30×14(立方厘米) |
儀器重量: | 8kg |
(2)四探針電阻測(cè)試方法參數(shù)及技術(shù)指標(biāo)： |
1.激勵(lì)電流范圍： | 10nA、100nA、1uA，10uA，100µA，1mA，10mA，100mA、200mA、500mA |
2.電壓范圍： | 0.5V，1V，2V，5V，10V |
3.電阻范圍： | 0.1mΩ～1GΩ |
4.方塊電阻范圍： | 0.5mΩ/sq～5GΩ/sq |
5.電阻率范圍： | 10-6～106Ωcm |
6.預(yù)熱時(shí)間： | 0~64秒 |
7.電阻精度： | ≤0.3% |
8.被測(cè)器件電動(dòng)勢(shì)： | 無(wú)源或者E＜5mV，E＜0.5V，E＜1.5V，E＜4.5V，E＜9.5V。 |
9.測(cè)量數(shù)據(jù)顯示： | 電流、電壓、電阻、方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率 |
10.整機(jī)不確定性誤差： | ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果） |
69種測(cè)試方法包括：
線性掃描伏安法LSV | 單電位階躍計(jì)時(shí)電流法CA |
線性掃描溶出伏安法 | 單電位階躍計(jì)時(shí)電量法CC |
線性掃描循環(huán)伏安法LCV | 多電位階躍計(jì)時(shí)電流法 |
階梯伏安法SV | 多電位階躍計(jì)時(shí)電量法 |
階梯溶出伏安法 | 單電流階躍計(jì)時(shí)電位法CP |
階梯循環(huán)伏安法SCV | 多電流階躍計(jì)時(shí)電位法 |
方波伏安法SWV | 恒電位電解I-T曲線 |
方波溶出伏安法 | 恒電位電解Q-T曲線 |
方波循環(huán)伏安法SWCV | 恒電位溶出I-T曲線 |
差示脈沖伏安法DPV | 恒電位溶出Q-T曲線 |
差示脈沖溶出伏安法 | 開(kāi)路電位E-T曲線OCPT |
常規(guī)脈沖伏安法NPV | 電位溶出E-T曲線 |
差示常規(guī)脈沖伏安法DNPV | 控制電流E-T曲線 |
差分脈沖電流檢測(cè) | 控制電位電解庫(kù)侖法 |
雙差分脈沖電流檢測(cè) | 鍍錫量測(cè)定 |
三脈沖電流檢測(cè) | 塔菲爾圖Tafel |
積分脈沖電流檢測(cè) | 環(huán)形掃描 |
脈沖電鍍法 | 點(diǎn)蝕電位 |
電鍍電位監(jiān)測(cè) | 電偶腐蝕 |
流體力學(xué)調(diào)制伏安法 | 電化學(xué)噪聲測(cè)量 |
交流伏安法ACV | 氯離子濃度監(jiān)測(cè) |
交流溶出伏安法 | 宏電池電流監(jiān)測(cè) |
交流循環(huán)伏安法ACCV | 半電池恒流陽(yáng)極極化 |
二次諧波交流伏安法 | 半電池恒流陰極極化 |
傅里葉變換交流伏安法 | 半電池恒流循環(huán)極化 |
電流掃描計(jì)時(shí)電位法 | 電池恒流充電 |
交流阻抗譜EIS | 電池恒流放電 |
交流阻抗-電位 (阻抗模-電位、輻角-電位、Mott-Schottky) | 電池恒流循環(huán)充放電 |
交流阻抗-時(shí)間 | 電池全容量分段充電 |
溶液電阻測(cè)量 | 電池全容量分段放電 |
微分電容-電位 | 恒流限壓快速循環(huán)充放電 |
微分電容-頻率 | 零阻電流計(jì) |
高阻電位計(jì) | 四探針?lè)綁K電阻測(cè)量 |
器件電阻電源內(nèi)阻測(cè)量 | 刀型探頭方塊電阻測(cè)量 |
線狀材料電阻率測(cè)量 | |
●宏方法：用戶可自編腳本進(jìn)行多種電化學(xué)方法的組合運(yùn)行
配置單：
項(xiàng)目 | 品名 | 數(shù)量 |
1 | RST電化學(xué)工作站主機(jī) | 1臺(tái) |
2 | RST電子版程序軟件 | 1個(gè) |
3 | RST安裝使用說(shuō)明書(shū) | 1本 |
4 | 3mm玻碳工作電極 | 1支 |
5 | 0.5*15mm鉑絲輔助電極 | 1支 |
6 | 232甘汞參比電極 | 1支 |
7 | RST-30模擬電解池 | 1個(gè) |
8 | RS-232/USB數(shù)據(jù)線 | 1條 |
9 | 電極電纜線 | 1條 |
10 | 電源線 | 1條 |
11 | DJ-3多功能電解池 | 1個(gè) |
12 | 0.3um氧化鋁 電極磨料 | 1瓶 |
13 | P-4拋光底板（帶拋光布） | 1塊 |
14 | 短接線 | 2條 |
15 | 安裝調(diào)試儀器 | 1份 |
