UV-A型單通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)

UV-A型單通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

特點(diǎn)

     光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正

     數(shù)字液晶顯示，帶背光
     手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
     數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
     低電量提醒
     自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
     有數(shù)字保持
     輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

技術(shù)參數(shù)：

波長范圍λ1，峰值波長λp（320～400）nm，λP＝365nm  用戶二選一

波長范圍λ2，峰值波長λp（375～475）nm，λP＝420nm

輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103) μW/cm2        

紫外帶外區(qū)雜光：0.02%      

相對示值誤差：±8％（相對于NIM標(biāo)準(zhǔn)）     

角度響應(yīng)特性：±5% （α≤10°）

線性誤差：±1%   

換檔誤差：±1%   

短期不穩(wěn)定性：±1%（開機(jī)30min后）   

疲勞特性：衰減量<2%

零值誤差：滿量程的±1%   

響應(yīng)時(shí)間：<1秒   

使用環(huán)境：溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg  

電源：6F22型9V積層電池（非充電電池）     

整機(jī)功耗：＜0.1VA

成套清單：

1       讀數(shù)顯示單元         1

2       探頭         1

3       探頭蓋     1

4       數(shù)據(jù)線     1

5       說明書     1

6       合格證/保修單        1

7       9V積層電池   1

8       儀器包裝箱     1