兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱
兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱--產(chǎn)品用途
兩箱式冷熱沖擊試驗機為兩箱式動態(tài)沖擊,可作冷熱沖擊試驗,也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、 單位、電工電子、儀器儀表、材料設備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安 全性測提供可靠性試驗,產(chǎn)品篩選等,同時可通過此試驗,進行產(chǎn)品的質量控制。
兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱--性能特點
制冷過程不加熱控制,節(jié)省能源30%以上
自動沖擊溫度自動未卜償系統(tǒng)，溫度沖擊不過沖
樣品檢驗前應力消除控制系統(tǒng)
快速除霜控制系統(tǒng)，除霜時間小于60分鐘
獨立運飼氐溫，高溫模式，一機三用
的故障自診斷提示功能
自主研猊5代7,真彩控制系統(tǒng)，成熟穩(wěn)定可靠
三重強勢的安全保護系統(tǒng)，確保樣品安全
兩箱式提籃結構，模擬環(huán)境
兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱--符合標準
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
兩箱式冷熱沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱--規(guī)格與技術參數(shù)
型號 | STJ-PTH-60L | STJ-PTH-100L | STJ-PTH-300L |
工作室尺寸(W*H*L)mm | 450*400*340 | 500*450*450 | 600*750*700 |
外型尺寸(W*H*L)mm | 900*1450*1050 | 1130*1750*1100 | 1300*1850*1300 |
提籃尺寸(W*H*L)mm | 350*400*300 | 400*350*350 | 500*650*600 |
性能
指標 | 溫度范圍 | -40℃～+150℃/-55℃～+150℃/-65℃～+150℃ |
溫度均勻性 | ≤2.0℃ |
溫度波動 | ≤0.5℃ |
使用環(huán)境溫度 | +5℃～35℃ |
電源 | AC380V 50Hz |
升溫時間（高溫區(qū)） | +25~+190℃ 35分鐘以內 |
降溫時間（低溫區(qū)） | RT~-55℃/ RT~-65℃/ RT~-75℃ 約70分鐘 |
樣品區(qū)承重 | 100KG | 100KG | 100KG |
控制
系統(tǒng) | 控制器 | 進口觸摸式（P、I、D +S、S、R.）微電腦集成控制器 |
精度范圍 | 設定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃ |
制冷系統(tǒng) | 機械壓縮式復疊制冷系統(tǒng) 全封閉或半封閉式壓縮機 |
循環(huán)系統(tǒng) | 單循環(huán)，低噪音離心風機 |
溫度轉換時間 | 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S |
溫度恢復時間 | ≤5min（與溫度恢復條件有關，既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時間、樣品重量有關） |
溫度沖擊方法 | 垂直二箱法或水平二廂法 |
☆上述指標在室溫為+23℃時，溫濕度性能測試按照國家標準《JJF1101-20003》相關條款檢定。
