| 參考價 | 面議 |
溫度循環(huán)TC試驗又名高低溫沖擊試驗是半導體元器件元器件行業(yè)的測試設(shè)備
溫度循環(huán) TC試驗又名高低溫沖擊試驗是半導體元器件元器件行業(yè)的測試設(shè)備。在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害，用于考核器件在短期內(nèi)反復承受溫度變化（循環(huán)流動的空氣）的能力及不同膨脹系數(shù)材料之間的熱匹配性能。
滿足標準：
GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1
GB/T 2423.22-2012 7
主要技術(shù)參數(shù)：
| 設(shè)計和技術(shù)參數(shù)(TCT系列） | ||||||||||
| 型號 | LS-TCT-401 | LS-TCT-402 | LS-TCT-403 | LS-TCT-501 | LS-TCT-502 | LS-TCT-503 | LS-TCT-601 | LS-TCT-602 | LS-TCT-603 | |
| 箱體設(shè)計 | ||||||||||
| 提籃容積（升） | 27 | 64 | 125 | 27 | 64 | 125 | 27 | 64 | 125 | |
| 試驗箱內(nèi)箱容積尺寸 （mm） | 寬（W) | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 |
| 高（H) | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | |
| 深（T) | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | |
| 試驗箱外箱尺寸 （mm） | 寬（W) | 1180 | 1280 | 1380 | 1180 | 1280 | 1380 | 1180 | 1280 | 1380 |
| 高（H) | 1850 | 1950 | 2050 | 1850 | 1950 | 2050 | 1850 | 1950 | 2050 | |
| 深（T) | 180 | 190 | 2000 | 180 | 190 | 2000 | 180 | 190 | 2000 | |
| 溫度試驗參數(shù) | ||||||||||
| 溫度范圍 熱箱 | ℃ | +80~200 | +80~200 | +80~200 | ||||||
| 溫度范圍 冷箱 | ℃ | -10~-60 | -20~-70 | -30~-80 | ||||||
| 測試溫度范圍 | ℃ | -40~+150 | -55~+150 | -65~+150 | ||||||
| 溫度波動度 | ℃ | ±0.5~1.0 | ||||||||
| 溫度均勻度 | ℃ | ±0.5~2.0 | ||||||||
| 升溫平均速率1 | ℃/min | 3~5 | ||||||||
| 降溫平均速率2 | ℃/min | 1 | ||||||||
| 熱箱冷箱轉(zhuǎn)換時間 | sec | ＜10 | ||||||||
| 恢復時間 | min | ＜15 | ||||||||
| 校準值 熱箱1 | ℃ | 125 | 125 | 150 | ||||||
| 校準值 冷箱2 | ℃ | -40 | -55 | -65 | ||||||
| 冷卻方式 | 水冷或風冷 | |||||||||
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