德國費希爾X射線熒光鍍層測厚儀XAN系列XAN系列XAN®系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量
XAN® 系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復雜或含量微小也都能準確測量。該系列產品簡單易用且性價比高，因此在同類產品中脫穎而出。
操作簡單且性價比高。
自下而上進行測量，從而快速、簡便地定位樣品
廣泛適用：為各個行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號
以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析
帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型，可對極薄鍍層及微量成分進行*測量
厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層
時尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進行分析
抗磨損鍍層，如：對化學鎳鍍層的厚度及磷含量進行測量
測試納米級基礎金屬化層（凸點下金屬化層，UBM）
測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度
經驗豐富實驗室、檢測機構以及科研院校中常規(guī)材料分析
依據 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則，檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質（例如重金屬）
功能性鍍層的成分，如測定化學鎳中的磷含量
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