QNIX4200P5大量程涂層測厚儀分體化設(shè)計，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單。QNIX4200P5為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛?！锬暇┠贤貦z測儀器有限公司德國尼克斯測厚儀Qnix公司代理商，主要代理型號有QNIX4200P5、QNIX4500尼克斯鍍層測厚儀、Qnix1200、QNIX1500涂層測厚儀、Qnix7500/8500型涂層測厚儀，只需調(diào)零、無需校準(zhǔn)。： ,

QNix® 4200P5

      

 QNIX4200P5涂層測厚儀一體化設(shè)計，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單。
 QNix4200P5為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

QNIX4200P5涂層測厚儀產(chǎn)品優(yōu)點：
只需調(diào)零，無需校準(zhǔn) 
體積小巧，操作方便 
精度高 
價格便宜

QNIX4200P5涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)
磁性基體(Fe模式)	QNix4200P5有此功能
測量范圍	Fe:0-5000um
顯示精度	0.1um
精度	0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) 1000-5000um≤±3%讀數(shù)
小接觸面	10×10mm
小曲率半徑	凸面：3mm 凹面：25mm
小基體厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補償范圍	0-60℃
顯示	LCD液晶(帶背光)
探頭	紅寶石固定式
電源	2×1.5V干電池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g

德國QNIX公司相關(guān)型號：

                  測量范圍：0-2000微米、0-5000微米，探頭：一體探頭、分體探頭。 任意組合，一機多用。

                 測量范圍：0-500微米，0-2000微米、0-5000微米，探頭：無線探頭、一體探頭、分體探頭。
                 任意組合，一機多用，增加無線探頭功能，

QNix® 4200P5 SONDEN

Sonde	Messbereich	Substrat	Abweichung
QNix® 4200 3 mm	3000 µm	Fe	+/- (3% +- 2 µm)
QNix® 4200 5 mm	5000 µm	Fe	0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm)  ?2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)

Kleinste Messfl?che	Kleinster Krümmungsradius	Kleinste Dicke des Substrats
∅ 25 mm	Konvex: 5 mm  ?Konkav: 5 mm	200 µm