我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無鹵測(cè)試等）、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素檢驗(yàn)等等。總之銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)。
檢測(cè)鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等），簡(jiǎn)單方便的是X熒光光譜儀，精度更高穩(wěn)定性更好的是實(shí)驗(yàn)室使用的專業(yè)測(cè)試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：
金屬材料檢測(cè)儀器
儀器介紹：
手持式儀器簡(jiǎn)介：
X射線熒光光譜分析儀，有效檢的應(yīng)對(duì)有害元素檢測(cè)、合金分析、礦石分析、環(huán)境分析的產(chǎn)品，目前正服務(wù)于伊朗核查和歐美各大海關(guān)等重要部門。
部分客戶
核查小組
大亞灣核電站
寶鋼集團(tuán)
鞍鋼集團(tuán)
撫順特鋼
齊魯特鋼，
黃埔電廠
嘉興電廠
寶豐不銹鋼管
鳳凰銅管
北方管業(yè)
中國(guó)石油
中國(guó)石化
中金有色金屬
江西銅業(yè)，
浙江廢舊金屬
瀘天化
銀海化肥
華北制藥
葛洲壩水泥
中國(guó)核動(dòng)力研究院
哈飛集團(tuán)
包頭坦克，
四川省煙草局
湖北省煙草局
鄭州
合金分析儀*性能
. 超的檢測(cè)精度度。
. 超的穩(wěn)定性，超的重復(fù)性。
. 優(yōu)異的線性相關(guān)性。
. 采用了*重新設(shè)計(jì)的射線管、無壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
. 結(jié)構(gòu)更精密，縮短了射線管、探測(cè)器與被測(cè)樣品之間的距離，對(duì)于某些應(yīng)用信號(hào)提了~40%.
. 新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測(cè)樣品，具有8 個(gè)濾波器，可適應(yīng)的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產(chǎn)生好的分析效果。
. 超過1/3的機(jī)體采用鋁合金外殼設(shè)計(jì)，儀器頂部有的槽式散熱裝置，整個(gè)體系使散熱非常有效，延長(zhǎng)機(jī)器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低。
. SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。
. 可測(cè)試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。
. 內(nèi)置的氣壓計(jì)可以糾正氣壓，氣壓計(jì)壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整，從而是檢測(cè)值更加準(zhǔn)確，儀器預(yù)設(shè)海平面，客戶在不同的海拔度測(cè)試，無需再次校準(zhǔn)。
. 內(nèi)置的加速器可探測(cè)運(yùn)動(dòng)和震動(dòng)，使儀器不用時(shí)待機(jī)，拿起時(shí)工作。
. 智能接駁座可對(duì)額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時(shí)充電并顯示充電進(jìn)度，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù)，可讓儀器即時(shí)標(biāo)準(zhǔn)化，儀器隨時(shí)待命狀態(tài)。
. 儀器即使在開機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī)，在系統(tǒng)運(yùn)作中拔掉電池，有超過30秒的時(shí)間可以插入一個(gè)新電池。
. 儀器開機(jī)并不需要標(biāo)準(zhǔn)化，可以直接測(cè)試，標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項(xiàng)。
. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用，手柄軟膠設(shè)計(jì)，手感好,更適合長(zhǎng)時(shí)間使用。
合金分析儀技術(shù)性能
. 真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無損,快速,準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的百分比含量。
. 只需將合金分析儀直接接觸待測(cè)合金表面，無須等待和花費(fèi)時(shí)間即可現(xiàn)場(chǎng)確定合金等級(jí)。
. 被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。
. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識(shí)別合金元素。
合金分析儀元素分析范圍
可分析從從12號(hào)元素Mg到94號(hào)元素PU之間的所有合金。
合金分析儀器的分析模式與元素種類 |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 分析范圍：從12號(hào)元素Mg鎂到94號(hào)元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素，在以上范圍內(nèi)，可以根據(jù)客戶需要更換其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
直讀光譜儀簡(jiǎn)介：
型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了的CMOS信號(hào)采集元件，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個(gè)數(shù)，與光譜儀yi流技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的極低檢出限，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，具有數(shù)據(jù)，長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。
主要技術(shù)參數(shù)
v 波長(zhǎng)范圍：140~680nm
v 光柵焦距：401mm
v 探 測(cè) 器：性能CMOS陣列/CCD陣列
v 放電頻率：100-1000Hz
v 放電電流：大500A
v 檢測(cè)時(shí)間：依據(jù)樣品類型而定，一般20S左右
v 分析間隙：4mm
金屬材料檢測(cè)儀器
