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GB/T6672 薄膜厚度測量儀

Labthink蘭光CHY-C2 薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀滿足多項(xiàng)國家和標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817 ，適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。

CHY-C2 薄膜測厚儀 特　　征
微電腦控制、液晶顯示
菜單式界面、PVC操作面板
接觸式測量
測頭自動(dòng)升降
手動(dòng)、自動(dòng)雙重測量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印
顯示zui大值、zui小值、平均值和統(tǒng)計(jì)偏差
標(biāo)準(zhǔn)接觸面積、測量壓力（非標(biāo)可選）
標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定
微型打印機(jī)
RS232接口
網(wǎng)絡(luò)傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
CHY-C2 薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀技術(shù)指標(biāo)
測量范圍：0～2mm（常規(guī)）
　　　　　0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：10次/min（可調(diào)）
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
　　　　　注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm （L）×275 mm （B）×300 mm （H）
凈　　重：33kg
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以上CHY-C2薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀信息由Labthink濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司發(fā)布，：

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【濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司】介紹
濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司專業(yè)致力于檢測理論研究與實(shí)驗(yàn)室建設(shè)，服務(wù)于紡織、包裝、印刷、膠粘劑及車用非金屬行業(yè)的品質(zhì)控制事業(yè)，擁有的高分子聚合物阻隔性實(shí)驗(yàn)室，已為世界各地 4000 多家客戶提供多層次專業(yè)化服務(wù)及數(shù)萬套檢測設(shè)備。憑借專業(yè)精深的研究理念及創(chuàng)新的人才精英團(tuán)隊(duì)， Labthink 蘭光以完備的研究設(shè)施、完整的核心技術(shù)、完善的解決方案著稱包裝測試行業(yè)。
Labthink蘭光產(chǎn)品如下：透氧儀、透濕儀、薄膜拉力機(jī)、頂空分析儀、透氣性測試儀、密封試驗(yàn)儀、摩擦系數(shù)儀、熱縮試驗(yàn)儀、熱封試驗(yàn)儀、落鏢沖擊試驗(yàn)儀、擺錘沖擊試驗(yàn)儀、墨層結(jié)合牢度試驗(yàn)機(jī)、薄膜測厚儀、持粘性測試儀、紙箱抗壓機(jī)、電子剝離試驗(yàn)機(jī)、初粘性測試儀、撕裂度儀等。