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簡(jiǎn)介：多角度Zeta電位及納米粒徑同步分析儀，動(dòng)態(tài)光散射、電泳光散射，MP-PALS多角度相位分析，多角度Zeta電位分析（MP-PALS多角度相位分析）；其中31個(gè)探測(cè)器同時(shí)收集相位遷移信號(hào)，分析Ze...

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簡(jiǎn)介：靜態(tài)分子量與納米粒度同步分析儀，惟一通過“并行分析”技術(shù)同步獲得粒徑與靜態(tài)分子量數(shù)據(jù)的分析儀。惟一同時(shí)應(yīng)用靜態(tài)光散射與動(dòng)態(tài)光散射的分析儀，采用“并行分析”技術(shù)：同時(shí)具備兩套探測(cè)系統(tǒng)，一次加樣即可同...

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簡(jiǎn)介：zeta電位儀（顆粒表征），NanoPlus納米粒度與zeta電位儀是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及的FST技術(shù)來分析納米粒度和zeta電位，并可...

簡(jiǎn)介：zeta電位儀（顆粒表征），NanoPlus納米粒度與zeta電位儀是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及的FST技術(shù)來分析納米粒度和zeta電位，并可...

簡(jiǎn)介：Zeta電位分析儀，通過單次測(cè)試即可在整個(gè)動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)獲取更多的樣品信息，節(jié)省時(shí)間。深入研究獲取的數(shù)據(jù)，可提高產(chǎn)率，優(yōu)化流程，開發(fā)潛能，更高的靈敏度，提高了原始數(shù)據(jù)的質(zhì)量和結(jié)果的準(zhǔn)確性。

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簡(jiǎn)介：設(shè)計(jì)的顯微觀察電泳槽為可拆卸式，清洗極為方便。設(shè)計(jì)的顯微觀察電泳槽的兩內(nèi)壁制作了精細(xì)的*性的光學(xué)標(biāo)記，便于定位。

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簡(jiǎn)介：光學(xué)鏡：連續(xù)變倍系統(tǒng)即可變焦光學(xué)系統(tǒng)，適用于更寬范圍顆粒的測(cè)量顆粒范圍：適用于0.2～50um的分散體系（水性體系和非水體系）pH范圍：一般應(yīng)用于2.0～12.0，亦可在1.6～13.0范圍內(nèi)使用...

簡(jiǎn)介：光學(xué)鏡：連續(xù)變倍系統(tǒng)即可變焦光學(xué)系統(tǒng)，適用于更寬范圍顆粒的測(cè)量顆粒范圍：適用于0.2～50um的分散體系（水性體系和非水體系）pH范圍：一般應(yīng)用于2.0～12.0，亦可在1.6～13.0范圍內(nèi)使用...

簡(jiǎn)介：JS94H型微電泳儀是華東師范大學(xué)與上海中晨數(shù)字技術(shù)設(shè)備有限公司合作在94年推出的新一代測(cè)試儀器的改進(jìn)型，新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模...

簡(jiǎn)介：JS94H型微電泳儀是華東師范大學(xué)與上海中晨數(shù)字技術(shù)設(shè)備有限公司合作在94年推出的新一代測(cè)試儀器的改進(jìn)型，新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模...

簡(jiǎn)介：海中晨數(shù)字技術(shù)設(shè)備有限公司是上海市*、國(guó)家創(chuàng)新基金立項(xiàng)單位（國(guó)科發(fā)計(jì)字[2009]276號(hào)）。公司依托國(guó)內(nèi)*高校和科研單位，廣泛采用國(guó)內(nèi)外有關(guān)專家的科技成果，著重膠體與界面、粉體技術(shù)、紡織纖維等性...

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簡(jiǎn)介：微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測(cè)定顆粒的Zeta電位，求出等電點(diǎn)，...

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