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簡介：Film-Sense多波長上海昊量光電推出的多波長橢偏儀采用長壽命的LED光源，可分別提供405nm、450nm、465nm、525nm、595nm、635nm、660nm、850nm、950nm...

簡介：鍍層分析儀,X射線熒光測厚儀適用于鍍層厚度測量及材料分析，具有無損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，可用來定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量，廣泛應(yīng)用于電路板、半導(dǎo)體、電鍍、...

簡介：臺式鍍層分析儀（基礎(chǔ)款）可無損地測量各種鍍層的厚度和材料成分。具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器，被廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等...

簡介：曉INSIGHT鍍層分析儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評價樣品...

簡介：

簡介：應(yīng)用說明

簡介：主要技術(shù)指標(biāo)：◆測量原理：磁性法◆測量范圍:1～1250μm◆測量精度：±（3%H+1）μm（零點(diǎn)校準(zhǔn)）±[(1～3)%H+1]μm（二點(diǎn)校準(zhǔn)）

簡介：基本原理：探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達(dá)被測物體并在物體中傳播，到達(dá)材料分界面時被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

簡介：利用分光光譜反射儀來精確地測量光學(xué)或非光學(xué)薄膜厚度，可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、醫(yī)療和工業(yè)生產(chǎn)中！品牌：OceanOptics型號：NanoCalc

簡介：產(chǎn)品描述：M2BLIZZARD采用開槽設(shè)計，適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品