一、XRD-BTX 測試原理
XRD-BTX 測試分為三步，啟動儀器（無需儀器校正）—制樣裝樣—檢測。使
用XRD-BTX 專門配置的樣品制備系統(tǒng)，將樣品研磨成粉末（粒徑D<150um），然
后裝填進樣品室中（樣品量m~15mg），X 光束穿透樣品，探測器接收衍射光束，
形成衍射圖譜，得到樣品信息。

二、XRD-BTX 結構系統(tǒng)
X 光管、X 射線準直器、探測器、冷卻系統(tǒng)、樣品振動系統(tǒng)、WIFI 生成系統(tǒng)
為XRD-BTX 的主要的部件，其構成了整個XRD-BTX 系統(tǒng)。
X 光管為微焦X 射線管，靶材標準配置為Cu、Co，并可根據檢測樣品情況
選擇使用Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、Wu 等。管電壓為30kv，管電流為0.3mA,功率
為10w。低功率管壓保證了射線管長使用壽命，正常使用至少達10 年。微焦X
射線管保證了X 射線良好的聚焦性。
X 射線準直器采用針孔準直系統(tǒng)，替代傳統(tǒng)大型臺式機的光學校準部件， 光
柵作用*。
探測器采用二維CCD 探測器，探測面積1024 x 256 pixels，該探測器可有效
識別衍射光束和熒光光束，對能量和位置極度靈敏，可同步進行XRD 及XRF 分
析。
冷卻系統(tǒng)采用Peltier 電子制冷，可有效保證探測器正常工作溫度（-45°C）
樣品振動系統(tǒng)（NASA ）替代傳統(tǒng)測角儀，該裝置使得樣品在樣品室中
以6000HZ 的頻率振動，保證樣品檢測的多角度，同時提高檢測樣品的統(tǒng)計量。
電源系統(tǒng)使用110V / 200V 電壓.
儀器內部自帶WIFI 無線生成系統(tǒng)，可通過該裝置與筆記本電腦遠程連接，
實現儀器的操控和數據傳輸。

三、XRD-BTX 的*性
XRD-BTX 的*性表現在：
1） 便攜式：整機質量12.5kg，一體機設計，無任何機械移動部件。
2） 集成性：XRD 與XRF 技術集成，可同步對樣品進行XRD 及XRF 定性
（Ca-U）分析，提供物質成分、物相及結構信息。
3） 簡便性：包括儀器操作的簡便性和樣品制備的簡便性。儀器操作一
鍵式按鈕設計，無需校正，自動檢測，無需額外關注和小心高壓系統(tǒng)和
水循環(huán)冷卻系統(tǒng)（儀器無額外高壓和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)）；樣品制備無需制
片、壓片、刮平等，只需經過粉碎、濾篩、裝樣三步，整個過程只需3
分鐘。
4） 無線傳輸：儀器自動產生局域網絡，通過WIFI 與筆記本電腦實現無
線連接，可實現遠程操控和數據傳輸，也可通過數據線有線連接。
5） 較好的環(huán)境適應性：專為美國火星計劃地質考察而研制，儀器可防
防震動。
6） 低廉的維護成本：低功率X 射線管，可延長射線管功率（正常使用
10 年），無需使用水循環(huán)冷卻系統(tǒng)，節(jié)約能源。