Xpress型劃痕測(cè)試儀擁有非常友好的用戶使用界面，可以用于膜基結(jié)合強(qiáng)度、薄膜抗劃擦能力以及傳統(tǒng)方法的硬度測(cè)量（顯微鏡觀測(cè)）。

Xpress型劃痕測(cè)試儀
 

　　儀器簡(jiǎn)介：
 

　　快速劃痕測(cè)試儀REVETEST Xpress (1N - 200N)
 

　　快速劃痕儀REVETEST Xpress為企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控提供了一種低成本的理想檢測(cè)手段。
 

　　Xpress型劃痕測(cè)試儀擁有非常友好的用戶使用界面，可以用于膜基結(jié)合強(qiáng)度、薄膜抗劃擦能力以及傳統(tǒng)方法的硬度測(cè)量(顯微鏡觀測(cè))。
 

　　REVETEST Xpress的簡(jiǎn)約化設(shè)計(jì)為您的質(zhì)量檢測(cè)和產(chǎn)品開發(fā)部門提供了一種高效、可靠的手段。用戶可以通過與儀器配套的軟件自行定義測(cè)量參數(shù)，然后將這些自定義的測(cè)量參數(shù)導(dǎo)入一張USB盤中。您只需將此USB盤放入儀器內(nèi)置的USB標(biāo)準(zhǔn)接口，然后按下“開始”鍵來啟動(dòng)您自定義的測(cè)試即可。測(cè)試結(jié)束后，用戶可以選擇直接在儀器上(如果儀器配套了光學(xué)顯微鏡選件)或使用用戶實(shí)驗(yàn)室的其它光學(xué)顯微鏡分析實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和劃痕形貌。
 

　　主要特點(diǎn)：
 

　　特點(diǎn)
 

　　金剛石針尖劃痕
 

　　閉環(huán)力學(xué)反饋控制
 

　　符合標(biāo)準(zhǔn)ASTM、C1624和EN 1071
 

　　選件
 

　　升級(jí)到Xpress Plus             
 

　　升級(jí)到標(biāo)準(zhǔn)配置的大載荷劃痕儀Revetest
 

　　CCD光學(xué)顯微鏡與顯示器
 

　　聲發(fā)射傳感器
 

　　深度傳感器