SEM高溫疲勞試驗機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗機(jī)。用于在疲勞試驗過程中動態(tài)時實觀測樣品表面的微觀破壞?？蛇M(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點彎曲疲勞試驗及800℃以下的高溫試驗。

SEM高溫疲勞試驗機(jī)
 

　　SEM高溫疲勞試驗機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗機(jī)。用于在疲勞試驗過程中動態(tài)時實觀測樣品表面的微觀破壞?？蛇M(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點彎曲疲勞試驗及800℃以下的高溫試驗。
 

　　規(guī)　格：                                                                      
 

　　· 試驗載荷：±5KN                                                                       
 

　　· 位移：±10mm                                                                
 

　　· 試驗溫度：室溫——800℃
 

　　· SEM分辨率：3.4nm                                                                     
 

　　· 放大倍率：×20——30萬倍
 

　　· 觀測范圍：6mm——16mm
 

　　特　點：
 

　　· 電子顯微鏡SEM與試驗機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu)，具有高防振效果。
 

　　· 可以在利用SEM觀察的同時，進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗。
 

　　· 可以在常溫——800℃溫度范圍內(nèi)，重復(fù)向樣品加載。
 

　　· 試驗過程中，可以使SEM的視野與樣品的變形同步。
 

　　用　途：
 

　　適合金屬、陶瓷、巖石材料的常溫、高溫疲勞性能測試和樣品表面形貌、裂紋擴(kuò)展的測試。