CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的全面自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r(shí)測(cè)定zui多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測(cè)量點(diǎn)zui小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用開(kāi)槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為： ● 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 ● 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 ● 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 ● 程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。 ● 超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。 CMI950系列采用開(kāi)閉式樣品室，以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為： ● 全程控樣品臺(tái)：XYZ三軸程序控制樣品臺(tái)，可接納的樣品zui大高度為150mm，XY軸程控移動(dòng)范圍為300mm x 300mm。此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 ● Z軸程控樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制，Z軸自動(dòng)控制，可接納的樣品zui大高度為270mm。 ● 全手動(dòng)樣品臺(tái)：XYZ三軸手動(dòng)控制，可接納的樣品zui大高度為356mm。 可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。 CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下： No. | 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | 1 | X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | 標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
X射線管功率可編程控制 | | 裝備有安全防射線光閘 | 2 | 濾光片程控交換系統(tǒng) | 根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) | 二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | | 位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口 | 3 | 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | zui多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制 | 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | 4 | 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) | | 在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) | 5 | X射線探測(cè)系統(tǒng) | 封氣正比計(jì)數(shù)器 | | 裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路 | 6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 | | －樣品室結(jié)構(gòu) | 開(kāi)槽式樣品室 | 開(kāi)閉式樣品室 | －zui大樣品臺(tái)尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | －XY軸程控移動(dòng)范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm
任選：50.8mm x 152.4mm
50.4mm x 177.8mm
101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm | 300mm x 300mm | －Z軸程控移動(dòng)高度 | 43.18mm | XYZ程控時(shí)，152.4mm
XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm | －XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 |
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