上市時間：2015-12-23

創(chuàng)新點：作為zui先將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了*結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中，既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，zui高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，*解決了*以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能zui強大的粒度分析與Zeta電位儀。

. . . .ZetaPlus是簡單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測量儀器，其*的開放式樣品槽設(shè)計與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得準(zhǔn)確而方便。

NanoBrook產(chǎn)品系列

●代表“有” ○代表“無”

工作原理

    ZetaPlus采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進(jìn)行運動，電荷運動使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

典型應(yīng)用

1.脂質(zhì)體、生物膠體、醫(yī)藥

2.陶瓷、膠乳、乳劑（食品、化妝品）

3.顏料、油墨、炭黑

技術(shù)參數(shù)

1.適用粒度范圍：0.001-100μm

2.樣品體積：0.18～1.5ml

3.pH值測量范圍：1-14

4.電導(dǎo)率范圍：0-20 S/m

5.電泳遷移率范圍：10^-10～10^-7m² /V.s

6.溫度控制：-5～110℃, ±0.1℃

7.電場強度：0～3.2 kV/m

8.電極：*性開放式電極，電極材料純鈀