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北京哈科半導體測量顯微鏡

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具體成交價以合同協(xié)議為準

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北京哈科半導體測量顯微鏡產(chǎn)品簡介:該光學自動化檢測設(shè)備主要用于LCD、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè),為其研發(fā)、制造提供所需的檢測設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導電粒子大小、數(shù)量等功能。

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 北京哈科半導體測量顯微鏡產(chǎn)品特點;   測量型金相顯微鏡是一種兼顧影像、目視與納米高度測量多用的高精度、高效率測量儀器。該產(chǎn)品具有電視成像與目視光學兩套瞄準系統(tǒng),可人工觀察金屬表面的金相組織結(jié)構(gòu),是集光、機、電、算、影像于一體的顯微鏡。該產(chǎn)品以二維測量為主,也可作三維輔助測量,廣泛應用于電子組件、精密模具、塑料、PCB加工方面、鍍膜厚度、手機玻璃等工業(yè)領(lǐng)域。

 

1. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

2. X、Y軸采用空氣軸承、花崗石導向,保證了機械系統(tǒng)的精確穩(wěn)定,提高了測量精度

3. X、Y、Z三軸伺服控制,定位精度高、速度快,運行平穩(wěn)

4. 同軸光/底光測量

5. 內(nèi)置偏光測量光學模塊

6. 自主開發(fā)QMS3D-M軟件,高清晰進口1/2"彩色攝像機

7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置,可適應復雜工件的測量

8. 可實現(xiàn)Z軸自動對焦

9. 具有偏光和DIC檢測功能

10. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度

 

北京哈科半導體測量顯微鏡產(chǎn)品規(guī)格參數(shù):

型號

JTM-6065C

JTM-6090C

 

工作臺

玻璃臺尺寸(mm)

690*770

640*1070

XY運動行程(mm)

600*650

600*900

Z向行程(mm)

200

200

外形尺寸(mm)

1500*1350*1510

1800*1350*1510

儀器重量(kg)

1300

1550

X、Y、Z向分辨力(um)

0.1

XY示值誤差(um)

E1XY=(2.5+L/200)

物鏡放大倍率誤差

包括畸變在內(nèi)的放大率誤差:≦0.08%

落射照明光源

可調(diào)高亮度LED燈源

底光照明光源

可調(diào)條型光源

電源

AC   100V-240V  50/60Hz

氣源壓力

0.5MPa

空氣流量

120L/min(0.4   MPa)

溫度范圍

20±2℃<1/h  2/24h 1/m

濕度

55%~65%

 

目視系統(tǒng)

影像系統(tǒng)

物鏡放大倍數(shù)

5X、10X20X、50X

目鏡放大倍數(shù)

10X雙鏡筒

1/2”CCD攝像機

 

總放大倍數(shù)

 

50X~500X

140X~1400

(17”顯示囂,分辨率1024*768)

     

 


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