儀器簡介：
濺射原子化激光共振電離飛行時間質(zhì)譜儀（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)
SIRIS分析步驟：
1、通過能量強大的離子束，解吸附和霧化（分離成原子）樣品的一小部分（濺射）。
2、在濺射過程中抑制離子形成。
3、濺射中性粒子的選擇性激光電離（共振電離光譜）。
4、離子的飛行時間質(zhì)譜分析。
技術(shù)參數(shù)：
濺射原子化激光共振電離飛行時間質(zhì)譜儀（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)技術(shù)特點：
1、激光系統(tǒng)包括Nd:YAG激光泵的二波長可調(diào)激光器。
2、標準系統(tǒng)包括可選擇微焦點離子槍（50 ?m光斑尺寸）或液態(tài)金屬離子槍（100nm光斑尺寸）；兩種離子槍都配作為一個選項。 x, y, z, ? 四維樣品操縱器，X、Y方向上的精度為亞微米級。
3、16方位輪播樣品臺。
4、靜電分析儀，從根本上消除了由于非選擇性表面電離的影響。
5、組合微通道板-閃爍器-光電倍增管，可獲得高增益檢測與*的脈沖高度分布。
6、一周的儀器操作培訓(xùn)和SIRIS數(shù)據(jù)分析培訓(xùn)。
主要特點：
濺射原子化激光共振電離時間質(zhì)譜儀（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)
是一種新型微區(qū)定量高靈敏分析儀器。它集離子濺射、共振電離與飛行時間質(zhì)港等技術(shù)于一體，由于具有高電離效率、高靈敏性、高選擇性、適用范圍廣以及基體效應(yīng)小等特點，可以實現(xiàn)復(fù)雜樣品微區(qū)微量成份的定量分析。
廣泛應(yīng)用于核物理、地質(zhì)、礦產(chǎn)、鋼鐵、半導(dǎo)體材料、環(huán)境等許多領(lǐng)域。
我公司有超過25年的SIRIS研究和儀器化的經(jīng)驗，提供完整的SIRIS儀器，目前已經(jīng)向*各個國家的科研機構(gòu)提供了幾十臺SIRIS-TOFMS儀器。
