干燥度分析儀（激光光散射儀）利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動(dòng)。測(cè)量系統(tǒng)包括一個(gè)產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測(cè)器。通過對(duì)膜的干燥動(dòng)力學(xué)曲線的分析，可以得到有關(guān)膜形成過程中分子運(yùn)動(dòng)及重排等信息。

干燥度分析儀（激光光散射儀）利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動(dòng)。測(cè)量系統(tǒng)包括一個(gè)產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測(cè)器。通過對(duì)膜的干燥動(dòng)力學(xué)曲線的分析，可以得到有關(guān)膜形成過程中分子運(yùn)動(dòng)及重排等信息。利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動(dòng)。測(cè)量系統(tǒng)包括一個(gè)產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測(cè)器。干涉的圖像被稱作散斑圖像，由多像素檢測(cè)器檢測(cè)。
*的干涉光斑光譜成像技術(shù)可以記錄從粒子的從運(yùn)動(dòng)速度非?？欤衲ぃ┑竭\(yùn)動(dòng)速度非常緩慢（干膜）的速度變化動(dòng)態(tài)。變化的動(dòng)力學(xué)過程可以通過流動(dòng)性因子對(duì)時(shí)間的變化關(guān)系曲線進(jìn)行量化。
可以測(cè)量不同基底：金屬、塑料、玻璃、木頭、混凝土、紙、薄膜…
- 可以測(cè)量膜的厚度 : 高達(dá)500 µm
- 數(shù)據(jù):
1. 成膜動(dòng)力學(xué)報(bào)告：流動(dòng)性因子對(duì)時(shí)間的變化關(guān)系曲線
2. 根據(jù)膜的類型（水劑涂料或其他），自動(dòng)計(jì)算特征點(diǎn)
3. 特征點(diǎn)的數(shù)據(jù)表摘要
4. 數(shù)據(jù)可以輸出到excel表格中
干燥度分析儀（激光光散射儀）主要規(guī)格
檢測(cè)頭：
光源: 650 nm激光光源 （class II – 0.9 mW）
檢測(cè)器: 背散射光接受 （MS-DWS多斑漫散射波光譜學(xué)）
測(cè)量平臺(tái):
防震平臺(tái)
測(cè)量厚度:厚達(dá)500 µm 膜厚度
數(shù)據(jù)采集:
可以從秒到數(shù)天. 快可達(dá)30次采集/秒