小型高低溫試驗箱用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于3%，且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

高低溫試驗箱

高低溫試驗箱

小型高低溫試驗箱用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于3%，且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

觀察窗內(nèi)側(cè)安裝 EC 膜加熱除霜裝置，使您在任何時候都可以通過觀察窗清晰地觀察箱內(nèi)供試樣品的試驗狀況。

顯示器（彩色觸摸式控制屏）

程序儲存容量 120 組（每種模式大 99 步）

循環(huán)次數(shù)：全部循環(huán) 999 次，部份循環(huán) 4 組，每組 99 次

HGTH 系列產(chǎn)品能滿足以下各項標(biāo)準(zhǔn)：

GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗 A：低溫試驗方法。

GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗 B：高溫試驗方法。

GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗。

GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

• 內(nèi)容量：30L/40L（可定制）
• 溫度范圍：-40℃~150℃
• 溫度波動度：≤±0.5℃
• 溫度均勻性：≤2.0℃
• 溫度下降時間：+75℃~ -40℃（120分鐘內(nèi)）
• 溫度上升時間：-40℃~ +75℃（60分鐘內(nèi)）