R9plus掃描探針顯微鏡控制器產(chǎn)品特點
極低噪音與超高穩(wěn)定性！
單箱集成所有輸入、輸出及控制模塊 |
R9plus更低的噪聲水平 |
極低噪聲，超高速度和精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換接口 |  線性電源提供極低噪聲密度 |
*的譜圖能力！
20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gap is due to proximity effect of superconductivity. |
Raw spectroscopy data taken on Pb single crystal. Graph shows 50 dI/dV curves acquired at 350 mK; Dark line shows average of individual curves. |
開放性與靈活性*！
HDLTM軟件界面
R9掃描探針顯微鏡控制平臺采用了RHK*的IHDLTM圖像化硬件描述與編輯軟件，通過簡單的“拖放”操作，即可完成對硬件和實驗的所有設置。同時IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB，為實驗的設計提供了無限的可能。
特制的硬件系統(tǒng)
采用RHK特制的且優(yōu)化設計的硬件模塊，利用RHK UltraDAC技術(shù)以極低的噪音水平對所有的信號進行數(shù)字化運算和處理。硬件模塊包括：PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。
強大而優(yōu)異的功能
> 將所有SPM的功能模式集中到一起，通過軟件即可快捷的對硬件系統(tǒng)進行重新定義。
> 無需外界模塊和設備可實現(xiàn)包括STM、dI/dV隧道譜、接觸式&非接觸式AFM、導電AFM、開爾文探針顯微鏡KFM、SNOM等功能。
> 兼容所有商業(yè)化的STM/AFM系統(tǒng)，并實現(xiàn)對他們的全面控制。
功能強大，性能可靠！
> 支持所有的掃描探針顯微鏡操作模式，包括：STM、dI/dV譜、接觸式和導電式AFM、非接觸式AFM、開爾文探針KFM等。不需要添加任何外置設備；
> 支持音叉式和微懸臂式AFM；
> 支持所有非接觸式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。
接觸式AFM模式 - Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。
采用全數(shù)字式Phase Shifter，保證了系統(tǒng)的穩(wěn)定性；
> PLL和Multiple Lock-in通道一起使用，可以同時采集多個諧頻信號；
> SNOM：多個高速輸入通道可以同時對表面成像，并采集光學信號（模擬或脈沖計數(shù)）；
> KFM：無需添加任何外置的設備，即可完成KFM實驗；
> 全面兼容LabVIEW和MATLAB等語言與程序。
