Agilent/安捷倫
型號
8753ES
測量范圍
3G 6G
產(chǎn)品用途
調(diào)試天線

8753ES回收/出售
Agilent 8753ES矢量網(wǎng)絡分析儀可進行全面的RF元件評測。
300 kHz 至 3 或 6 GHz
頻率和功率掃描
適應50Ω和75Ω
可選時域、諧波測量、可配置測試裝置、去掉測試裝置
電校準（ECal）
主要特性與技術(shù)指標
30 kHz至3或6 GHz
頻率和功率掃描
在50至75 ohm之間可用
可選時域、諧波測量、可配置的測試儀、去除測試儀
可選的電子校準模塊（ECal）
產(chǎn)品品牌： 安捷倫 Agilent 惠普 HP

產(chǎn)品型號： 8753ES

產(chǎn)品介紹： 8753ET和8753ES射頻網(wǎng)絡分析儀為滿足研制實驗室或生產(chǎn)制造的測試需求，在速度、性能和方便使用上提供了*的結(jié)合。

8753ET和8753ES以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達110dB的動態(tài)范圍以及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網(wǎng)絡、

元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了**能的解決方案。


ET型

8753ET的特點是有一個能提供各種各樣幅度和相位測量的內(nèi)置50Ω傳輸/反射（T/R）測試裝置。頻率覆蓋范圍從300KHz到3或6GHz。T/R功能在對被測量器件進行測量時能給出很高的精度且極為方便。新增加的響應校準能對傳輸測量中的源匹配影響進行修正。選件004將標準件的-20～ 5dBm源功率范圍擴大到-85～ 10dBm。

ES型

8753ES的特點是有一個能提供各種各樣幅度和相位測量的內(nèi)置50或75ΩS參數(shù)測試裝置。全二端口誤差修正功能提供*的精度水準，S參數(shù)測試裝置則便于進行正、反向掃頻測量，而無需倒置被測件。為了提高配置的靈活性，選件011取消了內(nèi)置測試裝置，以便能選擇自己所需的測試裝置。8753ES選件011可與85046A/B和85047A S參數(shù)測試裝置以及供其它特殊應用的測試裝置配套使用。選件014為獲得**大靈活性提供了可配置的測試裝置。為了在非同軸系統(tǒng)中進行方便而精確的測量，特提供了TR*/LRM*校準。利用內(nèi)置適配置器移去校準技術(shù)，還能實現(xiàn)對非

插入式器件的高精度測量。


形式來觀察測量結(jié)果。為了驅(qū)動更大的外部**，以便于觀察，增加了與VGA兼容的輸出。

測試時序功能允許一次鍵入來迅速、反復執(zhí)行復雜的任務。在時序工作方式下，只需從面板測量一次，分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程。還可以利用測試時序經(jīng)并行或GPIB端口對外部裝置進行控制。

為了測量混頻器，調(diào)諧器和其它頻率轉(zhuǎn)換器件，頻率偏置工作方式允許對網(wǎng)絡分析儀獨立于**調(diào)諧。分析儀很容易以固定中頻或掃描中頻測試方式完成變頻損耗、相位、群延遲和混頻器統(tǒng)調(diào)的測量1。

功率計校準向?qū)?*輸入或輸出電平敏感的器件提供穩(wěn)幅的**功率。8753ET/ES自動對436A，437B，438A E4418B或E4419B功率計進行控制，

使在測試系統(tǒng)中任何處的功率都可調(diào)到具有功率計的精度，或?qū)⒕W(wǎng)絡分析儀**校準來進行精確的**功率測量。