微納米顆粒的尺寸及穩(wěn)定性對(duì)于它們的功能至關(guān)重要，對(duì)于它
們的處理和流動(dòng)性也同樣重要。
安東帕是高性能分析儀器的開發(fā)商和制造商，它將其物理
和工程專業(yè)技術(shù)與當(dāng)代的軟件創(chuàng)意相結(jié)合，研發(fā)出直觀又輕松
易用的顆粒分析儀：
Litesizer™ 粒度分析儀通過(guò)光散射技術(shù)（如透光率和折光率）和
巧妙簡(jiǎn)易的軟件測(cè)量粒徑zeta 電位和分子量。

技術(shù)特點(diǎn)

光學(xué)試驗(yàn)臺(tái)
光學(xué)試驗(yàn)臺(tái)是 Litesizer™ 系列的強(qiáng)大核心。高靈敏度的測(cè)量
光學(xué)器件即使是低光強(qiáng)信號(hào)也能精確檢測(cè)，堅(jiān)固的外殼降低
了振動(dòng)帶來(lái)的影響，并確保測(cè)量不受灰塵或溫度波動(dòng)影響。

ELS 技術(shù)：

cmPALS
Litesizer™ 500 采用新型（歐洲 2 735 870）PALS
技術(shù) cmPALS，它定義了 ELS 光學(xué)器件的*技術(shù)。結(jié)
果：zeta 電位測(cè)量的準(zhǔn)確性達(dá)到，所需時(shí)間降到少。

Omega 毛細(xì)管電位池

可與 Litesizer™ 500 配套使用的 zeta 電位測(cè)量池是一個(gè)具
有倒置的 ? 形毛細(xì)管的電位池。這可以在測(cè)量通道內(nèi)促進(jìn)形
成均勻電場(chǎng)，從而保證結(jié)果的穩(wěn)定性和重復(fù)性。

持續(xù)的透光率測(cè)量

持續(xù)測(cè)量樣品的透光率，LitesizerTM 系列產(chǎn)品能自動(dòng)調(diào)整一些
參數(shù)，比如聚焦位置、測(cè)量角度以及測(cè)量時(shí)間。

DLS實(shí)現(xiàn)的

尺寸分辨率
Litesizer™ 粒度分析儀可以精確測(cè)量雙峰甚至三峰顆?；旌?br>物。

一個(gè)儀器 – 三個(gè)檢測(cè)角度

選擇背散射、側(cè)散射或前散射，或者讓 Litesizer™ 500 為樣品
選擇角度。

折光率

現(xiàn)在可以使用 Litesizer™ 500 來(lái)確定溶劑的折光率。這可確
保在各種試驗(yàn)條件下，獲得精確度的粒徑和 zeta 電位。