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日本 Olympus 工業(yè)顯微鏡 |
奧林巴斯的光學顯微鏡采用了獨自開發(fā)的UIS2光學系統(tǒng)(無限遠校正光學系統(tǒng)),實現(xiàn)了高分辨率和忠實于樣本的色彩再現(xiàn)。除了明視場觀察、暗視場觀察以外還對應多種觀察方法。搭配必要的元件,可以組裝成能夠靈活對應使用目的的顯微鏡。此外,搭配顯微鏡數碼照相機,可以通過顯示器輕松完成實時觀察和影像保存,從而實現(xiàn)了數碼微觀成像系統(tǒng)。 |
半導體/FPD檢查顯微鏡 |
![]() | MX61A是一款專門設計的半導體顯微鏡,可操作人員以正確的人體工程學姿勢進行操作,有利于操作人員在長時間的工作中順利進行檢測。采用了新穎的光學系統(tǒng)(UIS2),特別增強了明視場、暗視場的性能,從而提高了辨別和確認缺陷的能力。 |
![]() | MX61L / MX61, 300 mm/200 mm半導體檢查顯微鏡通過各種觀察方法 - 明視場法、暗視場法、微分干涉法(DIC)、熒光法、紅外線法和深紫外線法,保證了的圖像分辨率和鮮明度。 |
![]() | MX51工業(yè)檢查顯微鏡是一款高性價比的顯微鏡,適用于各種電子元件、晶圓和大型樣本的觀察需求。MX51主要操作部件集中載物臺內置離合器,可實現(xiàn)輕松移動。 |
![]() | MX-IR/BX-IR是像透過玻璃似的可透視紅外線顯微鏡。適用于封裝芯片、晶圓級CSP/SIP的非破壞檢查。使用近紅外線顯微鏡,可以在不破壞封裝的前提下,透過硅觀察IC芯片內部。對必需用FIB(Focused Ion Beam)處理位置的也有效。 |
![]() | AL120-12晶圓搬送機對應可使用FOUP(裝載口)和FOSB,適用于低成本的后期檢查。安全且符合人體工程學的設計確保了操作人員在搬送晶圓時(包括薄晶圓和變形晶圓)的效率和安全。 |
![]() | AL120晶圓搬送機可對應200mm以下晶圓尺寸的硅、化合物晶圓,可以安全高效搬送薄片晶圓,非常適合于前道到后道工程的晶圓檢查。 |
體視顯微鏡 |
![]() | SZX16通用顯微鏡是根據檢測應用的需求設計的,0.7x - 11.5x,變倍比可達16.4倍,分辨率可達900 LP/mm。能夠滿足廣泛的研究需求。 |
![]() | SZX10是可再現(xiàn)樣品自然顏色和形貌的應用領域較為廣泛的高級系統(tǒng)體視顯微鏡。寬范圍的變倍比(10倍),工作距離81mm,開口數0.1(采用1倍物鏡時)??商峁└吖鈱W性能和舒適的操作環(huán)境。 |
![]() | SZX7體視顯微鏡,價格適中、操作簡便、觀察舒適,并配有7:1變焦率功能和內置防靜電保護裝置,采用了*的伽利略光學系統(tǒng),可生成優(yōu)異的高畫質圖像。 |
![]() | SZ51和SZ61顯微鏡配有內置防靜電保護裝置,可生成具有優(yōu)異景深、清晰、細致、顏色逼真的圖像。其可靠、高性能的光學部件是保證精確觀測結果的核心。 |
測量顯微鏡 |
![]() | STM6-LM顯微鏡擁有亞微米級的精度,實現(xiàn)了優(yōu)異的通用性,可對各種零部件和電子元件進行高性能的三軸測量。低倍率選項使之成為精密工具制造者的理想選擇。 |
![]() | STM6顯微鏡擁有亞微米級的精度,實現(xiàn)了優(yōu)異的通用性,可對各種零部件和電子元件進行高性能的二軸或三軸測量。低倍率選項使之成為精密工具制造者的理想選擇。 |
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