NS3800高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料研究所研發(fā)的一款高速3D顯微鏡。與傳統(tǒng)的3D探針輪廓儀相比較，NS3800使用405nm的激光作為光源，進行無損傷檢測，不與樣品的表面直接接觸，因此不會損傷樣品的表面，測量精度遠遠高于探針輪廓儀。

NS3800三維激光共聚焦顯微鏡

NS-3800是一種精確、可靠的三維(3D)測量高速共焦激光掃描顯微鏡(CLSM)。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現(xiàn)實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結(jié)構(gòu)，如半導體晶片，F(xiàn)PD產(chǎn)品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等方面擁有*的解決方案。

Features & Benefits（性能及優(yōu)勢）：

• 高分辨無損傷光學3D測量                               自動傾斜補償

• 實時共焦成像                                                 簡單的數(shù)據(jù)分析模式

• 多種光學變焦                                                 雙Z掃描

  大范圍拼接                                                    半透明基材的特征檢測

• 實時CCD明場和共聚焦成像                            無樣品準備

• 自動聚焦

Application field（應用領(lǐng)域）：

NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

可測量微米和亞微米結(jié)構(gòu)的高度，寬度，角度，面積和體積，例如

-半導體:IC圖形，凹凸高度，線圈高度，缺陷檢測，CMP工藝

- FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測，ITO圖案，LCD柱間距高度

- MEMS器件:結(jié)構(gòu)三維輪廓，表面粗糙度，MEMS圖形

-玻璃表面:薄膜太陽能電池，太陽能電池紋理，激光圖案

-材料研究:模具表面檢測，粗糙度，裂紋分析

Dimension(尺寸）：

Specification (規(guī)格）：

注1:精細掃描由壓電執(zhí)行器（PZT）執(zhí)行。

注2 :以100×/ 0.95物鏡對標準樣品（步長1μm）進行100次測量。      

注 3 :以100×/ 0.95物鏡對標準樣品（5μm間距）進行100次測量。