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牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器C-Swift

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牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器C-Swift是CMOS探測器家族的新成員,專為常規(guī)材料分析和快速樣品表征而設(shè)計(jì)。C-Swift繼承了Symmetry的許多優(yōu)點(diǎn),包括為EBSD專門定制CMOS傳感器。這些優(yōu)點(diǎn)使得C-Swift也成為一種開創(chuàng)性的EBSD探測器。 牛津儀器 電子背散射衍射(EB...

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牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器C-Swift是CMOS探測器家族的新成員,專為常規(guī)材料分析和快速樣品表征而設(shè)計(jì)。C-Swift繼承了Symmetry的許多優(yōu)點(diǎn),包括為EBSD專門定制CMOS傳感器。這些優(yōu)點(diǎn)使得C-Swift也成為一種開創(chuàng)性的EBSD探測器。

牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器C-Swift是一個(gè)先進(jìn)、高速EBSD探測器。與Symmetry探測器一樣,C-Swift使用定制的CMOS傳感器來實(shí)現(xiàn)高速和高靈敏度,以確保即使在更具挑戰(zhàn)性的材料上也能獲得高質(zhì)量的結(jié)果。

C-Swift速度為1000pps,同時(shí)可獲得高質(zhì)量的花樣分辨率(156x128像素)。這相當(dāng)于基于CCD的探測器以相似速度運(yùn)行時(shí)所采集花樣像素?cái)?shù)的4倍,確保所有類型樣品的可靠標(biāo)定和高。無失真光學(xué)系統(tǒng)與AZtec軟件中強(qiáng)大的標(biāo)定算法結(jié)合,使C-Swift能夠提供優(yōu)于0.05°的高角度精度。對于需要更高質(zhì)量花樣的應(yīng)用,  C-Swift可以以高達(dá)250pps的速度采集622x512像素的花樣,使其成為復(fù)雜的多相樣品和精細(xì)的相分析的理想選擇。

這是專為快速、有效的樣品表征而設(shè)計(jì)的探測器。系統(tǒng)的每個(gè)組件,從接近傳感器到可選的集成前置探測器,都經(jīng)過設(shè)計(jì), 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成為每個(gè)實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)工具。


牛津儀器 電子背散射衍射(EBSD)探測器C-Swift特點(diǎn)

當(dāng)速度是關(guān)鍵時(shí),C-Swift探測器達(dá)到了一個(gè)新標(biāo)準(zhǔn):

  • 僅需要12nA的電子束流,就能保證1000pps的標(biāo)定速度
  • 速度下的156x128像素的花樣分辨率——同等速度下快速CCD探測器的4倍
  • 全分辨率花樣(622x512像素)——精細(xì)的相分析和形變分析的理想選擇
  • 低失真光學(xué)系統(tǒng), 確保角度精度優(yōu)于0.05°
  • 優(yōu)化的高靈敏度熒光屏, 確保低劑量和低束流能量下的高質(zhì)量的花樣——實(shí)現(xiàn)的空間分辨率
  • 即使在速度下也能實(shí)現(xiàn)無縫的EDS集成
  • 波紋管SEM接口,保持SEM真空完整性
  • *的接近傳感器——在可能發(fā)生的碰撞發(fā)生之前自動(dòng)將探測器移動(dòng)到安全位置
  • 簡單直觀的探測器設(shè)置,確保每次都能獲得良好的效果
  • 五個(gè)集成的前置探測器, 提供全彩色通道襯度圖像和原子序數(shù)襯度圖像

電子背散射衍射(EBSD)是一種基于掃描電子顯微鏡(SEM)),提供樣品顯微結(jié)構(gòu)晶體學(xué)信息的技術(shù)。在EBSD中,電子束與傾斜的晶態(tài)樣品相互作用,形成衍射花樣。衍射花樣可以通過熒光屏探測到,它具有所產(chǎn)生處樣品的晶體結(jié)構(gòu)和取向特征。因此,衍射花樣可用來確定晶體結(jié)構(gòu)及取向、區(qū)分晶體上不同的相、表征晶界、和提供有關(guān)局部結(jié)晶完整性的信息。
 
EBSD已成為SEM中的一個(gè)出色的附件,常用來提供晶體學(xué)信息。EBSD廣泛地應(yīng)用于許多不同的領(lǐng)域,以幫助材料表征,如下表所示。
 
 AZtec EBSD系統(tǒng)結(jié)合了EBSD( Symmetry )的速度和靈敏度以及 AZtecHKL軟件出色的分析性能,為電子背散射衍射(EBSD)和透射菊池衍射(TKD)分析提供了一種功能強(qiáng)大、用途廣泛的工具。

行業(yè)材料典型的EBSD測量
金屬研究和加工金屬,合金晶粒尺寸
航天金屬間化合物晶界表征
汽車夾雜物/沉淀物/第二相體織構(gòu)
核能陶瓷局部織構(gòu)
微電子薄膜CSL晶界表征
地球科學(xué)太陽能電池再結(jié)晶或形變率
科研領(lǐng)域地質(zhì)亞結(jié)構(gòu)分析
 半導(dǎo)體相鑒定
 超導(dǎo)體相分?jǐn)?shù)和相分布
 相變
 金屬和陶瓷復(fù)合材料斷口分析
 骨頭,牙齒晶粒和相間的取向與取向差關(guān)系

 


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