穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)
高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)
150XT 型穆勒矩陣是公司研發(fā)的一款高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)，在不到一秒內(nèi)即可實(shí)時(shí)測(cè)得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發(fā)的這款產(chǎn)品對(duì)于科研研究，工業(yè)測(cè)量，光學(xué)組件偏振特性測(cè)量，制造業(yè)生產(chǎn)/質(zhì)檢等領(lǐng)域都有著廣泛應(yīng)用可能。整套系統(tǒng)報(bào)包含完整軟件支持，可以直接繪制出各種各樣光學(xué)、生物、化學(xué)樣品的線性相位延遲，圓偏相位延遲（或旋光），線性二向色性偏振衰減，圓二向色性偏振衰減圖樣。
Hinds. 穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)，穆勒矩陣測(cè)量，Exicor，Mueller Polarimeter ，150XT,穆勒橢偏儀
高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)通過使用調(diào)制器和相應(yīng)偏振測(cè)量技術(shù)， 150XT 型穆勒矩陣橢偏儀在不到一秒內(nèi)即可實(shí)時(shí)測(cè)得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發(fā)的這款高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)對(duì)于科研研究，工業(yè)測(cè)量，光學(xué)組件偏振特性測(cè)量，制造業(yè)生產(chǎn)/質(zhì)檢等領(lǐng)域都有著廣泛應(yīng)用可能。這套穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)報(bào)包含完整軟件支持，可以直接繪制出各種各樣光學(xué)、生物、化學(xué)樣品的線性相位延遲，圓偏相位延遲（或旋光），線性二向色性偏振衰減，圓二向色性偏振衰減圖樣。
產(chǎn)品特點(diǎn)
? 的穆勒矩陣探測(cè)精度（全矩陣）
? 穆勒矩陣16組參數(shù)同步測(cè)量
? 樣品所有光學(xué)偏振特性同步測(cè)量
? 高重復(fù)精度
? 高速測(cè)量
? 系統(tǒng)光路固定（光路部分無移動(dòng)組件，更穩(wěn)定）
? 對(duì)不同尺寸待測(cè)樣品同樣支持測(cè)量掃描
? 光彈偏振測(cè)量技術(shù)
? 簡易，人性化操作軟件界面
產(chǎn)品應(yīng)用：
科研/工業(yè)研發(fā)
? 品控/質(zhì)檢測(cè)量
? 如下各種樣品的全偏振特性的測(cè)量：
1. 科研級(jí)復(fù)雜內(nèi)部學(xué)組件
2. 各種雙折射/
3. 復(fù)雜層級(jí)LCD
4. 同晶晶體
5. 各向異性晶體
6. 化學(xué)和生物光學(xué)各向異性材料
7. 由磁場(chǎng)/電場(chǎng)引起的各向異性樣品
規(guī)格參數(shù)
穆勒矩陣 (不同參數(shù)，靈敏度不同)
約3.533 mm厚度 C切割石英板狀樣品沿X-Y軸15°旋轉(zhuǎn)
（0.5°步長）穆勒矩陣測(cè)量原始數(shù)據(jù)
偏振測(cè)量參數(shù)
