高效率成像系統(tǒng)熒光壽命成像或FLIM是基于熒光樣品中不同區(qū)域的熒光的指數(shù)衰減速率的差異

高效率成像系統(tǒng)

熒光壽命成像或FLIM是基于熒光樣品中不同區(qū)域的熒光的指數(shù)衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個像素的強(qiáng)度，這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對比度，還可以產(chǎn)生顯示其他衰減路徑變化的圖像。 可以通過使用脈沖源在時域中確定熒光壽命。 當(dāng)熒光物質(zhì)被超短脈沖激發(fā)時，時間分辨的熒光將呈指數(shù)衰減。 計數(shù)（）通常被用作熒光壽命的測量方法，因為它補(bǔ)償了在源強(qiáng)度和單光子的脈沖幅度的變化。 更具體地說，TCSPC由單個光子雪崩光電二極管 （SPAD）記錄相對于激發(fā)激光脈沖的單個光子的壽命。 重復(fù)記錄多個激光脈沖，并在記錄了足夠多的事件后，研究人員能夠建立所有這些記錄的時間點上事件數(shù)量的直方圖。 然后，可以將該直方圖擬合到的指數(shù)壽命衰減函數(shù)的指數(shù)函數(shù)，并且可以相應(yīng)地提取壽命參數(shù)。 Xper-FLIM配備了單光子雪崩二極管檢測系統(tǒng)，可以提供低成本檢測通道選項，從而為FLIM研究人員實現(xiàn)超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置顯微鏡或正置顯微鏡，滿足其他應(yīng)用需求。

高效率熒光壽命成像系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域：

熒光壽命成像的原理：

高效率熒光壽命成像系統(tǒng)測試案例：

高效率熒光壽命成像系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)：