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薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60（mapping測量）

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公司名稱 上海昊量光電設(shè)備有限公司
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廠商性質(zhì) 代理商
更新時間 2023/2/11 8:42:14
訪問次數(shù) 375

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

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薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE60（精確定位測量）MProbe60是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計

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薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60（精確定位測量）

薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60

MProbe 60 是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計。它結(jié)合了測量厚度/n&k 與自動化小點測量的能力。MProbe 60 已應(yīng)用于研發(fā)納米技術(shù)中心。可以快速可靠地測量 1 nm至 2 mm的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的MProbe 60 型號主要受的波長范圍和分辨率影響，進而決定了可測量的厚度范圍。

薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60的優(yōu)勢：

1.具有靈活和模塊化的映射自動化的一站式系統(tǒng)

2.的精度 <0.01nm 或="">

3.500+ 擴展材料數(shù)據(jù)庫

4.軟件：用戶友好且功能豐富的 TFCompanion 軟件甚至可以處理zui復(fù)雜的應(yīng)用程序。層數(shù)沒有限制，支持背面反射、表面粗糙度、暗度等等。集成的相機和成像軟件允許精確定位測量位置并直接在圖像上顯示結(jié)果

薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60選型列表：

MProbe 60	波長范圍	厚度范圍
VISLX	400nm -1000nm	10nm – 75μm
UVVisSR	200nm-1000nm	1nm-75μm
UVVisF	200nm-900nm	1nm – 5μm
VISHR	700nm -1100nm	1μm – 400μm
NIR	900nm-1700nm	50nm -100μm
VISNIR	400nm -1700nm	10nm-100μm
UVVISNIR	200nm-1700nm	1nm-100μm
NIRHR	1530nm-1580nm	25μm-2000μm

關(guān)于昊量光電：

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