EscaLab QXi X射線光電子能譜儀
Thermo Scientific™ ESCALAB™ QXi X 射線光電子能譜儀（XPS）是ESCALAB 系列產(chǎn)品。作為可擴展的多技術表面分析平臺，ESCALAB QXi有著的靈活性和完備的專業(yè)配置選項。匯聚前沿技術，打造出高效便捷的軟件系統(tǒng)，高性能的硬件配置，高效的生產(chǎn)力。強大的Thermo ScientificTM AvantageTM 軟件系統(tǒng)集系統(tǒng)控制、設備狀態(tài)實時監(jiān)控與調(diào)節(jié)、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、報告生成等多功能于一身，操作便捷，快速高效。
的分析性能
● 表面元素定性、定量分析
能量分析器設計和雙晶微聚焦單色化X射線源結合，實現(xiàn)了的能量分辨率
● 快速高分辨平行成像
化學成像: 空間分辨率優(yōu)于1um
回溯成譜: 回溯區(qū)域優(yōu)于6um
● 無需背底修正探測器
電子倍增器和電阻陽極探測器的雙探測器設計，可實現(xiàn)高性能的XPS采譜和高空間分辨的XPS成像的需求。
空間連續(xù)的電阻陽極探測器創(chuàng)新技術，使得XPI成像分辨率達1um，同時所得數(shù)據(jù)無探測器背底特征，無需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像結果。
● 微聚焦單色源
分析尺寸在20μm～900μm之間連續(xù)可調(diào)
的靈敏度和能量分辨率
提供不少于20個靶材工作點，確保儀器終身使用過程中陽極靶無需更換
● 自動化高效離子剖析源
新型Ar離子團簇與傳統(tǒng)單粒子離子源相結合，用于各類材料的深度剖析研究
● 高精確度角分辨XPS
軟件控制分析位置和角度，確保數(shù)據(jù)的精確性和重復性
全套的ARXPS數(shù)據(jù)處理工具，可對納米尺度的多層結構器件進行層厚計算
● 一鍵式荷電補償
配有雙束電荷中和系統(tǒng)，可以根據(jù)實際樣品的需要獨立控制開啟。
適用于所有不導電樣品及粗糙表面的荷電中和
● 強大的Avantage分析軟件
全數(shù)字化儀器控制
系統(tǒng)軟件可視化操作
全套XPS標準數(shù)據(jù)圖庫以及化合物結構鑒定數(shù)據(jù)庫
自定義數(shù)據(jù)采集到報告生成模式
操作簡便
● 高度自動化
分析區(qū)域和角度分辨可選
自動化氣體調(diào)節(jié)和真空控制
● 隨時校準
能量標尺和儀器功函數(shù)的校準
離子槍定位和離子束聚焦
● 鼠標點擊式樣品導航
實時顯示分析位置
高照明強度、強度可調(diào)
設計靈活
● ISS、ARXPS與REELS為標準配置
● 多功能進樣室為標準配置
● UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可選
● 可選的樣品預處理附件，包括：
樣品制備臺、晶體清潔器、樣品刮片器
樣品加熱/冷卻裝置
濺射清潔離子槍
蒸發(fā)器、高壓反應室
