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激光檢測(cè)原子力顯微鏡(激光型)

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產(chǎn)品型號(hào):WinSPM L? 傳統(tǒng)的原子力顯微鏡? 采用激光檢測(cè)型探針? 多功能模式、研究級(jí)? 經(jīng)典傳承、品質(zhì)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

采用傳統(tǒng)激光檢測(cè)探針的原子力顯微鏡(AFM),經(jīng)典傳承、品質(zhì)。集成了多模式和多功能的、國(guó)際和研究級(jí)的掃描探針顯微鏡產(chǎn)品。



儀器特點(diǎn)

  • 采用激光探測(cè)探針,支持接觸模式和輕敲模式的形貌成像。

  • 具備力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等測(cè)量分析功能。

  • 采用高精度嵌入式測(cè)控系統(tǒng),主機(jī)隔音抗震設(shè)計(jì),抗干擾能力強(qiáng)。

  • 可擴(kuò)展納米加工、掃描隧道顯微鏡、靜電力顯微鏡等掃描探針顯微鏡功能。

  • 可選配不同掃描范圍的管型掃描器,或平面閉環(huán)型掃描器。

  • 可通過(guò)選配模塊和擴(kuò)展接口增強(qiáng)系統(tǒng)功能。

激光檢測(cè)示意圖



主要技術(shù)參數(shù)

  • 一鍵式快速自動(dòng)進(jìn)樣,行程23mm,最小步距50nm。

  • 手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品檢測(cè)位置,調(diào)節(jié)范圍±10.0mm。

  • 樣品尺寸的直徑20mm,厚度20mm。

  • 標(biāo)配管型掃描器,掃描范圍約為20μm×20μm×5μm。

  • 樣品逐行掃描成像,掃描成像速率0.1-30行/秒。

  • 一次掃描多幅圖像,圖像分辨高達(dá)1024×1024物理象素。

  • 內(nèi)置數(shù)模混合結(jié)構(gòu)的鎖相放大器,數(shù)字化PID反饋控制的響應(yīng)時(shí)間為10μs。

  • 嵌入式測(cè)控系統(tǒng)采用主頻為450MHz的雙核處理器(ARM + DSP),與上位機(jī)連接采用以太網(wǎng)TCP/IP通訊協(xié)議。



標(biāo)準(zhǔn)配置:

  • 主控制器

  • 主機(jī)底座及隔音罩

  • 主機(jī)探頭及探針架(L型)

  • 手動(dòng)樣品調(diào)節(jié)臺(tái)(調(diào)節(jié)范圍±10.0mm)

  • 管型掃描器(掃描范圍20μm)

  • 計(jì)算機(jī)及專用測(cè)控軟件

  • 儀器附件

L型探針架(上:正面;下:背面)


選配模塊:

  • 納米加工模塊,包括:圖形化納米加工、機(jī)械刻蝕、矢量掃描等功能

  • 掃描隧道顯微鏡(STM)模塊,包括:掃描隧道顯微鏡的硬件與軟件、STM探針架(WinSPM T-Probe)  

  • 輔助觀察光學(xué)顯微鏡系統(tǒng):物鏡倍數(shù):0.7X~4.5X;總放大倍數(shù):42-266X連續(xù)可調(diào)(14”有效顯示面積);工作距離:115mm 

  • 管型掃描器模塊:掃描范圍有8μm、20/30μm和100μm共3種規(guī)格

  • 平面閉環(huán)掃描器:掃描范圍為30μm×30μm×9μm,閉環(huán)分辨率約1.5nm,垂直方向的諧振頻率約為40kHz

  • 導(dǎo)電原子力顯微鏡(C-AFM)

  • 靜電力顯微鏡(EFM)

  • 磁力顯微鏡(MFM)



應(yīng)用領(lǐng)域及實(shí)驗(yàn)

  • 實(shí)驗(yàn)一:原子力顯微鏡的基本原理與應(yīng)用,典型的應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)榧{米研究、教學(xué)教育。

  • 實(shí)驗(yàn)二:原子力顯微鏡形貌成像及分析,典型實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包括:軟磁盤或光盤等常規(guī)樣品形貌成像及分析、光柵樣品的形貌成像及關(guān)鍵尺寸測(cè)量、納米臺(tái)階的測(cè)量分析。

  • 實(shí)驗(yàn)三:譜曲線測(cè)量與納米力學(xué)實(shí)驗(yàn),典型實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包括:力-距離曲線的測(cè)量分析、液體膜厚度的測(cè)量與分析。

  • 實(shí)驗(yàn)四:掃描隧道顯微鏡(STM),包括形貌成像和隧道譜。(需增配STM模塊)

  • 實(shí)驗(yàn)五:納米加工實(shí)驗(yàn),如圖形化納米刻蝕實(shí)驗(yàn)。(需增配納米加工模塊) 

  • 實(shí)驗(yàn)六:其它基于特殊針尖或?qū)嶒?yàn)方法的原子力顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域,包括:導(dǎo)電原子力顯微鏡(C-AFM)、靜電力顯微鏡(EFM)、磁力顯微鏡(MFM)等。(需增配或定制相應(yīng)的功能模塊)。

儀器整體照片

磁盤形貌圖(3×3μm)




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