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AFM-O光學(xué)原子力顯微鏡一體機產(chǎn)品特點

• 光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡一體式設(shè)計，光電控制一體化；
• 同時具備光學(xué)和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時掃描成像，互不影響；
• 同時具備光學(xué)二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能；
• 采用了垂直光路設(shè)計，配合氣液兩用型探針架可同時在空氣或液體中使用；
• 利用了高倍光學(xué)定位系統(tǒng)，實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位；
• 簡易的激光光斑調(diào)節(jié)方式，可通過光學(xué)CCD窗口實時觀測及調(diào)節(jié)光斑；
• 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，準(zhǔn)確定位掃描區(qū)域，使針尖垂直于樣品掃描；
• 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；
• 配備氣動式減震臺，抗干擾能力強，不影響儀器使用操作；
• 集成掃描器硬件非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

應(yīng)用范圍