| 軟件 | CIX-ASW-V1.5 | - 技術(shù)清潔度檢測(cè)的專用工作流程軟件
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| 語(yǔ)言 | 圖形用戶界面 | - 圖形用戶界面：英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、簡(jiǎn)體中文和韓語(yǔ)
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| 在線幫助 | - 在線幫助：英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、簡(jiǎn)體中文和韓語(yǔ)
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| 許可證管理 | - 軟件許可證通過(guò)許可證卡片激活（安裝時(shí)已激活）
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| 用戶管理 | - 系統(tǒng)可以連接到網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行域管理
- 可用功能范圍根據(jù)經(jīng)過(guò)身份驗(yàn)證的用戶而選擇。
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| 實(shí)時(shí)圖像 | 以彩色模式顯示 | - 金屬顆粒用藍(lán)色分析，非金屬顆粒用原色分析。
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| 窗口適應(yīng)法 | |
| 實(shí)時(shí)探測(cè) | - 顆粒一經(jīng)捕獲就會(huì)探測(cè)出來(lái)，以提高速度
- 如果測(cè)量結(jié)果不理想，用戶可以中止探測(cè)過(guò)程。
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| 實(shí)時(shí)分類 | - 探測(cè)到顆粒后，立即對(duì)顆粒進(jìn)行分類。
- 在實(shí)時(shí)采集過(guò)程中，可在用戶界面上識(shí)別顆粒所屬的大小等級(jí)。
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| 顯微鏡模式 | - 可以進(jìn)入顯微鏡模式進(jìn)行顯微成像。
- 提供可選配的材料分析解決方案（不是標(biāo)配）。
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| 圖像捕獲和手動(dòng)測(cè)量 | 收集用戶快照 | - 不僅可在實(shí)時(shí)觀察模式下（從實(shí)時(shí)圖像）或樣品查看模式下（從記錄的數(shù)據(jù)）捕獲圖像，也可以在審核模式下，捕獲樣品上任何位置的單個(gè)圖像
- 可使用1000 × 1000像素的標(biāo)準(zhǔn)分辨率，將圖像存儲(chǔ)為.tif、.jpg或.png文件
- 快照可以與探測(cè)到的顆粒相關(guān)聯(lián)，并在之后的分析報(bào)告中使用
- 顆?？煺湛梢栽诰吧顢U(kuò)展成像（EFI）模式下自動(dòng)獲取
- 在EFI模式下獲取的圖像可用在分析報(bào)告中
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| 手動(dòng)測(cè)量 | - 可以在獲得的快照上對(duì)任意距離進(jìn)行測(cè)量
- 可為任意測(cè)量項(xiàng)目重新命名，可以對(duì)顏色進(jìn)行重新著色
- 任意測(cè)量值和刻度線在存儲(chǔ)時(shí)都會(huì)被刻錄在圖像中
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| 硬件控制 | XY電動(dòng)載物臺(tái) | - 操縱桿操作和由軟件控制
- 檢測(cè)圓形和矩形的樣品區(qū)域
- 在所選顆粒上以自動(dòng)或手動(dòng)方式重新定位
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| 電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器 | |
| 電動(dòng)聚焦 | - 通過(guò)操縱桿控制
- 提供軟件自動(dòng)聚焦功能
- 使用多點(diǎn)聚焦圖進(jìn)行預(yù)測(cè)性自動(dòng)對(duì)焦
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| 檢查系統(tǒng) | 系統(tǒng)驗(yàn)證 | - 通過(guò)測(cè)量顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片的參數(shù)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證。
- 生成OK（合格）或NOK（不合格）的質(zhì)量判定結(jié)果
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| 可選物鏡 | - 對(duì)系統(tǒng)的檢查只能使用工作物鏡完成（至少應(yīng)選擇一個(gè)物鏡）
- 可以使用5X或10X物鏡，或使用這兩種物鏡對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行檢查
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| 技術(shù)清潔度標(biāo)準(zhǔn) | 支持標(biāo)準(zhǔn) | - ASTM E1216-11:2016、ISO 4406:2021、ISO 4407:1999、ISO 4407:2002 [累積和差分]、ISO 11218:1993、ISO 12345:2013、ISO 14952:2003、ISO 16232-10:2007（A、N和V）、ISO 16232:2018（A、N和V）、ISO 21018:2008、DIN 51455:2015 [70%和85%]、NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986、NF E 48-655:1989、SAE AS4059:2011、VDA 19.1:2015（A、N和V）、VDA 19.2:2015、VDI 2083-21
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| 精 確符合VDA19:2016的建議 | - 閾值自動(dòng)設(shè)置為VDA建議使用的值
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| 顆粒種類識(shí)別 | - 顆粒可按顆粒種類分類（纖維、反光、反光纖維或其他）
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| 自定義標(biāo)準(zhǔn) | - 用戶可以非常容易地自行定義標(biāo)準(zhǔn)
- 根據(jù)DT 55-83，顆粒測(cè)量參數(shù)包括絲狀粒徑和致密粒徑
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| 檢測(cè)配置 | - 該系統(tǒng)可使用戶加載、定義、復(fù)制、重命名、刪除和保存檢測(cè)配置
- 還可以存儲(chǔ)和調(diào)用標(biāo)準(zhǔn)和報(bào)告模板
- 可以反轉(zhuǎn)探測(cè)閾值，以探測(cè)到暗背景上的亮顆粒
- 可以在一個(gè)序列中采集多個(gè)樣品
- 每個(gè)樣品都可以使用特定的配置進(jìn)行檢測(cè)
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| 顆粒平鋪視圖 | 以平鋪形式顯示探測(cè)到的顆粒，提高了導(dǎo)航效率 | - 雙擊平鋪視圖可以檢索每個(gè)顆粒的位置
- 每個(gè)平鋪視窗都與實(shí)際顆粒大小相適應(yīng)
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| 保存完整的濾膜 | 存儲(chǔ)完整的濾膜 | - 離線分析可使用戶選擇不同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)顯示結(jié)果
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| 數(shù)據(jù)導(dǎo)出 | 保存數(shù)據(jù) | - 檢測(cè)數(shù)據(jù)可被導(dǎo)出到Excel（.xlsx）表格中
- 軟件中所有可用的表格也可以導(dǎo)出到Excel中
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| 趨勢(shì)分析 | 多個(gè)樣品的趨勢(shì)分析（內(nèi)置SQC工具） | - 可以按大小等級(jí)顯示數(shù)據(jù)
- 可以按時(shí)間、樣品、測(cè)量ID將數(shù)據(jù)繪制成圖
- 可以選擇比例（對(duì)數(shù)-正態(tài)，對(duì)數(shù)-對(duì)數(shù)）
- 數(shù)據(jù)點(diǎn)可被提取并導(dǎo)出到電子數(shù)據(jù)表格中
- 可以使用Q-DAS（.dfq）格式導(dǎo)出表格；軟件中的所有表格也可以導(dǎo)出到Excel中
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| 顆粒編輯 | 可在修改過(guò)程中對(duì)顆粒進(jìn)行編輯。 | 可進(jìn)行以下操作： - 使用直線或折線添加、刪除、合并或拆分顆粒
- 更改顆粒類型
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| 動(dòng)態(tài)報(bào)告 | 可通過(guò)使用Microsoft Word 2019制作專業(yè)分析報(bào)告 | - 模板是可自定義的
- 用戶在選擇不同的顆粒種類時(shí)，可以選擇將圖片放在表格后面，或者將所有圖片放在一起
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