X-4P偏光高倍顯微熔點(diǎn)儀用途測定物質(zhì)的熔點(diǎn)

X-4P偏光高倍顯微熔點(diǎn)儀

用途

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于液晶、藥物、化工、紡織、塑料粒子、染料、香料等晶體有機(jī)化合物的測定及顯微觀察；尤其適用于礦物藥或淀粉等帶偏光特性物質(zhì)的觀察，在測定物質(zhì)熔點(diǎn)的同時，可以看到物質(zhì)偏光特性的變化過程。在醫(yī)學(xué)、化工、合成纖維、生物學(xué)、礦物學(xué)、學(xué)等領(lǐng)域均有廣泛的應(yīng)用。

特點(diǎn)

◆多用性  既可作為微量樣品（毛細(xì)管法）的熔點(diǎn)測定，切片樣品的熔點(diǎn)測定，又可進(jìn)行生物工程的熱力學(xué)研究（載玻片—蓋玻片，熱臺法）；

◆偏光裝置  可觀察物質(zhì)偏光特性，為藥物或淀粉類特別設(shè)計 

◆高倍觀察 放大倍數(shù)40倍、100倍、200倍；三個倍數(shù)可切換使用。

◆專用攝像通道  X-4P配置三目顯微觀察筒，選購顯微成像系統(tǒng)，可在不影響目視觀察的情況下，同時在電視機(jī)或顯示器上顯示圖像。

◆保溫罩設(shè)計  減少了環(huán)境對測試結(jié)果的影響

技術(shù)參數(shù)