PL620型智能激光粒度分析系統(tǒng) ● 具有優(yōu)良的測量重復性及大顆粒、小顆粒測量準確性。 ● 采用簡潔的系統(tǒng)結構，可靠性好，可免維護或更少的維護 （免費保修兩年）。 ● 強大的軟件功能，支持報告設計及自定義計算，可使用編程語言。 ● ，為中小企業(yè)精心打造的，用得起、用得好的 激光粒度分析儀。 ● 采用紅外光源，大顆粒更靈敏。

結構原理

PL620型智能激光粒度分析系統(tǒng)，是根據顆粒對光的散射原理，從散射光能的分布中反演出被測顆粒的粒度分布。顆粒在激光束的照射下，其散射光的角度與顆粒的大小成反比關系，大顆粒的散射角較小，小顆粒的散射角較大。

該儀器采用全量程的米氏散射理論、智能搜索算法及簡潔穩(wěn)定系統(tǒng)結構。具有測量的重復性好、動態(tài)范圍寬、測量速度快、操作簡單方便及穩(wěn)定可靠、易維護等優(yōu)點，是一種適用面較廣的粒度分析儀；可以用來測量各種固體粉末、乳液顆粒的粒度分布。

適用領域

該儀器廣泛適用于磨料、打印耗材、建材、電池、非金屬礦、粉末冶金、精細化工、生物醫(yī)藥、石油能源、涂料、顏料、陶瓷、農藥、食品等領域的各種顆粒粒度大小的測量。

性能指標

1. 測試范圍：0.05～1500μm

2. 重復性誤差：<1% （D50偏差）

3. 進樣方式：濕法

4. 采集頻率：3000次/秒

5. 測試時間：1～2分鐘

6. 探測單元數：56個

7. 激光器：進口半導體激光器（紅外光）

8. 工作環(huán)境： 5～35℃（溫度），＜85%（相對濕度）

9. 輸出數據： 粒度分布表、粒度分布圖、平均粒徑、中位徑、比表面積等

10. 外觀尺寸：（L×W×H）：695×265×296mm（主機）

11. 超聲波功率： 120W

功能特征

● 簡潔可靠的光路及結構

1. 全量程的米氏散射理論、智能搜索算法及簡潔穩(wěn)定系統(tǒng)結構，

大幅度提高了樣品測量的重復性及大小顆粒測量的準確性。

2. 透鏡后傅立葉變換結構，使接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制。

3. 進口半導體激光發(fā)射器，低電壓供電，具有更快、更好的穩(wěn)定性及可靠性

（預熱5分鐘后即可進行測量，遠遠優(yōu)于氦-氖激光器30分鐘以上的預熱時間）。

4. 精密超低偏置電流的數據處理電路，能夠處理極其微弱信號，掃描頻率達到3000次/秒。

5. 的一體化激光器及后置對中調節(jié)鎖緊機構，可實現(xiàn)免維護及防止運輸或挪動過程中零環(huán)移位造 成的測試偏差。

6. 窗口材質采用超硬光學玻璃及不銹鋼，耐磨、易清洗，維護方便。

7. 全量程測量，勿需更換鏡頭，使用更方便。

8. 水平直線光路布置，光路結構穩(wěn)定可靠。

9. 底座采用硬鋁制作，結構輕便穩(wěn)定性好；

10. 外殼采取了防震、防塵、防潮、防輻射設計，便于運輸和在惡劣環(huán)境下工作。

11. 結構緊湊，占用空間小，能夠節(jié)約寶貴的實驗室空間。

12. 濕法進樣系統(tǒng)采用離心增壓泵，低電壓供電，更安全并可連續(xù)線性調速。

● 強大易用的軟件系統(tǒng)

1. 具有手動及SOP標準操作流程功能，可以大大減少人為因素的影響，使測試流程標準化。

2. 多種分析模式：單峰模式、通用模式、增強模式、多重窄峰。

3. 支持結果模擬，能將當前分析結果模擬成其它原理儀器的測量結果（如庫爾特、圖像儀等）。

4. 支持報告設計及自定義計算，用戶可根據需要自定義報告模板，并可使用編程語言進行計算，完成各種特殊要求。

5. 超過百種的樣品折射率；并提供光學參數優(yōu)化功能，對樣品折射率進行優(yōu)化調整。

6. 采用類似“文件資源管理器”的文件瀏覽方式，報告文件打開、查找更加簡便快捷。

7. 多種報告窗口：記錄、分析結果、百分報告、篩分報告、擬合報告、統(tǒng)計報告、趨勢報告、平均報告等；

并可對記錄進行排序，使用多種方式調整報告窗口大?。ㄕ摗㈨搶?、99%等）。

8. 可任意輸入樣品折射率（包括實部和虛部），系統(tǒng)自動完成參數計算，無需用戶額外操作。

9. 支持報告數據導出到doc、xls、pdf、jpg、bmp、html等多種文件格式。

10. 支持多種界面外觀設置。