儀器簡介：
納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準(zhǔn)和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數(shù)分析得到。
納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView的特點 - 全自動和無源穩(wěn)定性
自動校準(zhǔn)程序會持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動設(shè)計提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計結(jié)果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。
自動掃描，多可達(dá)100個子體積；
自動聚焦；
小巧，便于攜帶；
防震動；
光源從紫外線到紅光；
插入式樣品池；
理論
平移擴(kuò)散常數(shù)可通過直接觀測待測顆粒的布朗運(yùn)動計算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。
納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態(tài)光散射（DLS）
所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態(tài)光散射技術(shù)的低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。
測量范圍
測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計數(shù)
顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑?？蓹z測的小濃度為105粒子/cm3，大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒，大體積濃度為1000ppm。
準(zhǔn)確度和精度
Zeta電位：準(zhǔn)確度5mv，精度4mv，重現(xiàn)性5mv；
粒度測試（對于100納米的標(biāo)準(zhǔn)乳膠顆粒）：準(zhǔn)確度6nm，精度4nm，重現(xiàn)性4nm；
濃度測試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準(zhǔn)確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現(xiàn)性1Mio/ml；
只要相機(jī)設(shè)置正確，樣品處理適當(dāng)，則以上所有的數(shù)據(jù)均有效。
方法
Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。
技術(shù)參數(shù)
