Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀

測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統(tǒng)

不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計的特點，F(xiàn)20適用于各種應用。

一：測量厚度、折射率、反射率和穿透率：

• 單層膜或多層膜疊加

• 單一膜層

• 液態(tài)膜或空氣層

二：不同條件下的測量，包括：

•  在平面或彎曲表面

• 光斑最小可達20微米

• 桌面式、XY坐標自動化膜厚測量，或在線配置

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的電話和互聯(lián)網(wǎng)支持（24小時/每周5工作日）。這就是Filmetrics的優(yōu)勢，歡迎您試一試！

膜層范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。

這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導體材料，例如：

厚度測量范圍

測量原理為何？

軟件功能以使用者為導向

其他的選用配件

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

• 桌面式薄膜厚度測量的

• 24小時電話，和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標準分析軟件

附加特性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果

應用