高低溫（濕熱）快速溫度試驗箱系列設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)： 

GB10592-89   高低溫箱技術(shù)條件

GB11158      高溫試驗箱技術(shù)條件；

GB10589      低溫試驗箱技術(shù)條件；

GB10592      高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T10586-2006   濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GB/T2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

GB/T2423.22-2002  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)節(jié)試驗規(guī)程，試驗N：溫度變化試驗方法

GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則

GJB150.3A-2009 裝備試驗室環(huán)境試驗方法（高溫試驗）

GJB150.4A-2009裝備試驗室環(huán)境試驗方法 （低溫試驗）

GJB150.9A-2009裝備試驗室環(huán)境試驗方法 （濕熱試驗）

GB2423.1-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法